故障 1：单通道高频增益劣化，低频波形正常，1～2.5GHz 信号幅值跌落、边沿畸变
仪器开机自检正常，触控操作与其余通道工作稳定。故障通道低频标准信号波形完好；接入 1～2.5GHz 高速时钟、差分串行信号时幅度明显衰减，上升 / 下降沿失真。更换优质射频线缆、InfiniiMax 有源探头，通道互换对比，故障通道固定不变；执行通道垂直自校准持续提示高频增益误差超限。基线无长期漂移，故障原因为通道前端信号调理射频通路受损，无法满足 2.5GHz 带宽眼图、高速电源完整性测量指标；大多由静电冲击、输入过压造成前端放大器 / 衰减电路损坏。
故障 2：整机通道本底噪声抬升，微小信号测量重复性差，自校正改善时效短
设备充分预热、场地接地规范、外部电磁干扰可控。空载基线噪声持续高于出厂指标，mV 级小幅信号毛刺密集；多次测量电压、周期、随机抖动 RJ，数据离散度超标。执行整机自校正后短暂恢复，连续运行 30 分钟噪声再次恶化。4 通道同步出现同类现象，排除单通道前端器件损坏；根源为主板 ADC 采样恒温基准、参考电压回路滤波电容老化，参考电压叠加交流纹波，微弱信号信噪比持续恶化。
故障 3：InfiniiMax 有源差分探头识别失败，无源探头正常，无法加载 S 参数补偿
接入 Keysight 原厂 InfiniiMax 高频有源探头，仪器弹出 “未知探头” 告警，无法读取探头序列号、带宽与信号去嵌校正参数；探头在完好同型号主机可以正常识别，排除探头本体故障。清洁 2.4mm 输入接口内部 I2C 通讯触点改善有限，射频主通路收发正常，仅探头识别通讯链路异常；有源探头带宽增强、精密去嵌功能锁定，高精度小信号测量模式无法启用。多发于长期频繁插拔探头、接口内部通讯触点氧化、通讯上拉电阻阻值漂移。
故障 4：最大存储深度长时间采集易卡顿死机，长时序捕获、循环自校准中途终止
短时简易波形采集无异常。开启 1.6Gpts 最大存储深度持续录制长时序波形时界面极易冻结卡死；通道自校准、时基时钟自检流程经常中途中断，只能断电重启恢复。散热风扇运转平稳、无过热告警；降低存储深度后故障显著减少。主要诱因：高速采集内存供电滤波元件老化，供电纹波超标，LVDS 高速数据流读写出错；长期不间断大深度采集会加速该故障显现。
