故障 1：单通道高频增益劣化，低频波形正常，2～4GHz 信号幅值跌落、边沿畸变
仪器开机自检正常，触控界面与其余通道运行稳定。故障通道接入低频标准信号波形完好；接入 2～4GHz 高速时钟、差分串行信号时幅度明显衰减，上升 / 下降沿畸变严重。更换 2.4mm 射频线缆、InfiniiMax 有源探头，通道交叉互换比对，故障通道固定；执行通道垂直自校准持续提示高频增益误差超限。基线无长期缓慢漂移，通道前端射频调理通路性能劣化，无法满足 4GHz 带宽眼图、高速信号完整性测量指标，多由输入过压、静电冲击造成前端器件损伤。
故障 2：整机通道本底噪声抬升，微小信号测量重复性差，自校正改善维持时间短
仪器充分预热，测试场地接地规范、电磁环境稳定。空载基线噪声持续高于出厂指标，mV 级小幅信号毛刺密集；电压、上升时间、随机抖动 RJ 多次测量离散度超标。整机自校正后短暂恢复，连续运行 30 分钟噪声再次恶化。4 通道同步出现同类现象，排除单通道前端损坏；故障根源为主板 ADC 恒温采样基准、参考电压回路滤波电容老化漏电，参考电压叠加交流纹波，微弱信号信噪比下降。
故障 3：InfiniiMax 有源差分探头识别失败，无源探头工作正常，无法加载 S 参数补偿
连接 Keysight 原厂 InfiniiMax 高频有源探头，示波器弹窗提示未知探头，无法读取探头序列号、带宽、信号去嵌校正参数；探头在完好同型号主机可正常识别，排除探头本体故障。清洁 2.4mm 输入接口内部 I2C 通讯触点改善有限，射频主通路收发正常，仅探头识别通讯链路异常。有源探头带宽增强、精密去嵌功能锁定，高精度微弱信号测量模式无法启用，多发于长期频繁插拔造成触点氧化、回路电阻漂移。
故障 4：最大存储深度长时间采集容易卡顿死机，长时序捕获、循环自校准中途终止
短时基础波形采集无明显异常。开启 1.6Gpts 最大存储深度持续录制长时序波形时界面极易冻结卡死；通道自校准、时基 PLL 时钟自检流程经常中途中断，需断电重启恢复。散热风扇运转平稳，无过热告警；调低存储深度后故障显著减少。根本原因为主板高速采集内存供电滤波元件老化，供电纹波超标，LVDS 高速数据流读写误码。
