您好 欢迎来到晧辰科技!    [登录] [注册]
新闻动态全新仪器资讯论坛
快捷发布产品促销资料中心

所有设备分类

新闻动态

促销信息

产品详情

求购安捷伦 B1500A 半导体器件参数分析仪

浏览次数:200

紧急求购,资金齐备,坐等发货

产品参数

选件 保修时间 状态 是否计量
不保修 完好
成色 发货周期 所在地 数量
二手 -- - 1
预算价格: 电议
更新日期:2023-11-01
联系电话:0755-86016691

*产品描述

产品概述:
Agilent B1500A 半导体器件分析仪是一款具有十槽配置的模块化仪器,支持 IV 和 CV 测量以及快速高压脉冲。其熟悉的 Microsoft ® Windows ® 用户界面支持安捷伦的 EasyEXPERT 软件,该软件提供了一种新的、更直观的面向任务的设备表征方法。由于具有极低电流、低电压和集成电容测量能力,Agilent B1500A 可用于广泛的半导体器件表征需求(IC-CAP 支持 B1500A)。它也是非易失性存储单元表征和高速器件表征(包括高级 NBTI 测量)的出色解决方案。
 
 
Agilent B1500A 的特性和优势包括:
  • 卓越的 IV 测量性能:0.1 fA / 0.5 µV 测量分辨率
  • 测量功能包括单通道和多通道扫描、时间采样、列表扫描、准静态 CV(使用 SMU)、HV-SPGU 的直接控制和任意线性波形生成 (ALWG) GUI。
  • 可选的集成电容模块支持高达 5 MHz 的 CV 测量
  • 可选的基于定位器的 CV-IV 开关解决方案具有 0.5 µV 电压测量分辨率和 10 fA、1 fA 或 0.1 fA 电流测量分辨率能力
  • 通过内置半自动晶圆探针驱动器和测试序列轻松实现测试自动化,无需通过快速测试模式进行编程
  • 可选的高压半导体脉冲发生器单元 (HV-SPGU) 具有 10 ns 可编程脉冲宽度和 +/- 40 V(80 V 峰峰值)输出。
  • 可选的波形发生器/快速测量单元 (WGFMU) 具有 ALWG 和快速电流或电压测量功能。
  • 10 ns 脉冲 IV 解决方案可用于表征高 k 栅极电介质和 SOI(绝缘体上硅)晶体管。
  • 经典测试模式可用于提供 4155/4156 界面的外观、感觉和术语,同时通过充分利用 Microsoft ® Windows ® GUI 功能增强用户交互

其他要求

Product Overview:
The  Agilent B1500A Semiconductor Device Analyzer is a modular instrument with a ten-slot configuration that supports both IV and CV measurements and also fast high-voltage pulsing. Its familiar, Microsoft ® Windows ® user interface supports Agilent’s EasyEXPERT software, which provides a new, more intuitive task-oriented approach to device characterization. Because of its extremely low-current, low-voltage, and integrated capacitance measurement capabilities, the Agilent B1500A  can be used for a wide range of semiconductor device characterization needs (IC-CAP supports the B1500A). It is also an excellent solution for non-volatile memory cell characterization and high-speed device characterization (including advanced NBTI measurement).
 
 
Features and benefits of the Agilent B1500A  include:
  • Superior IV measurement performance: 0.1 fA / 0.5 µV measurement resolution
  • Measurement features include single and multi-channel sweep, time sampling, list sweep, quasi-static CV (using the SMUs), direct control and arbitrary linear waveform generation (ALWG) GUI for the HV-SPGUs.
  • Optional, integrated capacitance module supports CV measurements up to 5 MHz
  • Optional positioner-based CV-IV switching solutions available with 0.5 µV voltage measurement resolution and 10 fA, 1 fA or 0.1 fA current measurement resolution capability
  • Easy test automation with built-in semiautomatic wafer prober drivers and test sequencing without programming via the Quick Test mode
  • Optional high-voltage semiconductor pulse generator unit (HV-SPGU) available with 10 ns programmable pulse widths and +/- 40 V (80 V peak-to-peak) output.
  • Optional waveform generator/fast measurement unit (WGFMU) available with ALWG and fast current or voltage measurement capabilities.
  • 10 ns pulsed IV solution is available for characterizing high-k gate dielectric and SOI (silicon-on-insulator) transistors.
  • A Classic Test mode is available to provide the look, feel, and terminology of the 4155/4156 interface while enhancing user interaction by taking full advantage of Microsoft ® Windows ® GUI features

同类热门仪器

友情推荐

合作客户:

查看更多>>

国产仪器:

查看更多>>

进口仪器:

查看更多>>

校准计量:

查看更多>>

Copyright © 2007 All Rights Reserved. 深圳市晧辰电子科技有限公司 版权所有  [粤ICP备14101712号-1] [法律顾问]

公司地址:广东省深圳市南山区西丽街道官龙村华纵科技楼5楼  邮编:518055

在线QQ服务:  服务热线:0755-86016691  电话:13715327187  传真:0755-86641139-816

E-mail:info@wl95.com

//多图全屏展示