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| 选件 | 是否计量 | 发货周期 | 保修时间 | 成色 |
|---|---|---|---|---|
| 否 | 0天 | - | 9成新 | |
| 所在地 | 机身号 | 状态 | 资料下载 | |
| 深圳市 | 完好 |
Real Time PER Monitor
Santec的消光比测试仪PEM-330采用专利技术制造，可实现1260～1630nm全波段测量。只需更换测试光源，无需购买多台消光比测试仪，即可实现不同波段器件的精确测量，一机多用大大降低了仪器购置成本。该消光比测试仪具有极高的消光比测试精度、偏振角测试精度，能够测量高达50dB的消光比。并且配备了GPIB及RS-232C接口，适用于偏振光轴调整的光学元器件装配及保偏光纤熔接的质量控制及检测等领域。
*1:Temperature:20-30℃, PER<30dB, Measurement Speed:2.5Hz
性能
Parameter
Unit
Specification
Notes
Wavelength Range
nm
1260-1630
PER Dynamic Range
dB
40
50
PER Range
dB
–
0 to 50
Input power -5～+10dBm
0 to 40
0 to 40
Input power -15～+10dBm
0 to 30
0 to 30
Input power -25～+10dBm
0 to 20
0 to 20
Input power -35～+10dBm
PER Resolution
dB
0.1
PER Accuracy
dB
<±0.3*1
Input Power
dBm
-40〜+10
Power Resolution
dB
0.01
Power Accuracy
dB
<±0.3*2
Polarization Angle Resolution
deg
0.12*3
Polarization Angle Accuracy
deg
<±0.45
Measurement Speed
sec
0.1/0.2/0.4
Interface
–
GP-IB, RS-232C
Operating Temperature
℃
0-40
Size (w) x (D) x (H)
mm
210x300x80
Weight
kg
3
Supply Voltage
V
AC100-240
Max. Power consumption
W
35VA
*2:Calibrated wavelength:1310nm / 1550nm
*3:Measurement Speed:2.5Hz
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