特点:
使用速度为 1M 采样/秒的 18 位数字化仪对复杂波形进行采样;存储高达 2750 万个读数
以 0.1 μΩ 和 1 pA 灵敏度测试用于低功率电路中的组件
使用高达 14 ppm 的 1 年期精度直流电压,通过高测试不确定度比率实现最高测试质量
内置测试脚本处理器 (TSP®) 可在无需控制器交互的情况下执行测试序列,从而减少测试时间和通信开销,同时利用控制器执行其他任务
将源和测量与 2606B 高密度 4 通道源测量单元 (SMU) 和 DMM7512 相结合,可实现 4 通道采样和 2 通道测量功能,而占用的机架空间仅为 2U
无需在 DMM7512 或 2606B 之间提供额外空间以用于热管理
在 TSP-Link 测试系统中最多可控制 32 台仪器
以低于 500 ns 的延迟同步测量值
消除仪器和 PC 之间耗时的通信
DMM7512 TSP 代码与 DMM7510 TSP 代码兼容
Features:
Use an 18-bit digitizer with a speed of 1M samples/sec to sample complex waveforms; store up to 27.5 million readings
Test components used in low-power circuits with 0.1 μΩ and 1 pA sensitivity
Uses up to 14 ppm of 1-year precision DC voltage to achieve the highest test quality with a high test uncertainty ratio
The built-in test script processor (TSP®) can execute test sequences without controller interaction, thereby reducing test time and communication overhead, while using the controller to perform other tasks
Combining source and measurement with the 2606B high-density 4-channel source measurement unit (SMU) and DMM7512 can achieve 4-channel sampling and 2-channel measurement functions, while occupying only 2U rack space
No need to provide additional space between DMM7512 or 2606B for thermal management
Up to 32 instruments can be controlled in the TSP-Link test system
Synchronize measurements with a delay of less than 500 ns
Eliminate time-consuming communication between instrument and PC
DMM7512 TSP code is compatible with DMM7510 TSP code
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