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| 选件 | 是否计量 | 发货周期 | 保修时间 | 成色 |
|---|---|---|---|---|
| 否 | 5天 | 90天 | 8成新 | |
| 所在地 | 机身号 | 状态 | 资料下载 | |
| 深圳市 | 完好 |
Agilent HP 4155B 半导体参数分析仪提供四个内置源/监控单元 (SMU)、两个电压源单元 (VSU) 和两个电压监控单元 (VMU)。HP 4155B 具有非开尔文连接、10 V 分辨率和 100 mA/100 Ohm 测量范围，最适合基本半导体应用。
安捷伦半导体参数分析仪的其他特性和规格包括：
高分辨率/准确度和宽范围。I：1 fA 至 1 A（20 fA 偏移精度），V：1µV 至 200 V
使用直流或脉冲模式进行全自动 IV 扫描测量
可扩展至 6 个 SMU
同步压力/测量功能
两个高压脉冲发生器单元 (±40 V)
时域测量：60µs – 可变间隔，最多 10,001 个点
易于使用：类似于曲线跟踪器的旋钮扫描
自动分析功能
自动化：内置 HP Instrument BASIC，触发 I/O 功能
The Agilent HP 4155B Semiconductor Parameter Analyzer offers four built-in source/monitor units (SMUs), two voltage source units (VSUs), and two voltage monitor units (VMUs). The HP 4155B is best suited for basic semiconductor applications with its non-kelvin connections, 10 V resolution, and 100 mA/100 Ohm measurement range.
Other features and specifications of the Agilent Semiconductor Parameter Analyzer include:
High-resolution/accuracy and wide range. I: 1 fA to 1 A (20 fA offset accuracy), V: 1µV to 200 V
Fully-automated I-V sweep measurements with dc or pulse mode
Expandable up to 6 SMUs
Synchronized stress/measure function
Two high-voltage pulse generator units (±40 V)
Time-domain measurement: 60µs–variable intervals, up to 10,001 points
Easy to use: knob-sweep similar to curve tracer
Automatic analysis functions
Automation: built-in HP Instrument BASIC, trigger I/O capabilities
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