1、开机故障：完全不开机、通电无反应、风扇转黑屏、卡开机 LOGO、按键指示灯循环点亮、反复重启 故障现象：通电无任何反应，风扇不转指示灯不亮；风扇转动屏幕黑屏；卡在开机 LOGO 或者面板指示灯循环点亮，无法进入测量界面；开机反复重启。 主要诱因：后面板保险丝熔断；电源板启动电容干涸鼓包，MOS 管、功率电阻烧毁；NAND‑Flash 固件镜像损坏；主板供电异常；外设探头短路触发电源保护。排查优先拔掉探头、U 盘外设，断电静置 30 分钟释放残余电荷，空载上电测试。
2、模拟通道故障：单 / 双通道无波形、基线漂移、测量幅度超差，User‑Cal 自校准报错 故障现象：通道接入信号无波形输出，基线固定卡死；零点基线大幅漂移；相同输入信号幅度测量偏差大；User‑Cal 用户自校准垂直通道失败。 主要诱因：BNC 输入过压击穿保护二极管、衰减网络；BNC 插座虚焊；探头损坏；前端运放参数漂移。更换确认完好探头排除探头故障，运行 User‑Cal 校准定位故障通道。
3、人机交互故障：旋钮档位乱跳、按键失灵、屏幕花屏、背光暗淡 故障现象：旋转垂直 / 时基旋钮参数随机跳变；按键按下无响应；屏幕花屏、竖条纹，有图像但是背光很暗。 主要诱因：编码器积灰氧化触点接触不良；LVDS 排线松动氧化；背光驱动老化。先执行前面板自检，编码器可电子清洁剂清洗，失效更换编码器组件。
4、选配 WaveGen 波形发生器故障：无输出、输出幅度不足、短路保护告警 故障现象：开启选配 WaveGen，输出端口无信号；输出幅值达不到设置值；仪器持续提示输出短路保护。 主要诱因：外接负载短路烧毁内部驱动芯片；输出 BNC 虚焊。故障出现先断开外部负载重启，依旧报错属于仪器内部硬件损坏。
5、接口存储故障：U 盘无法识别、保存波形死机、USB 通讯不稳定 故障现象：插入 U 盘识别失败，保存波形报错；USB 连接上位机频繁断连；操作界面偶发死机。 主要诱因：USB 接口连接器虚焊；NAND‑Flash 存储坏块；固件版本 BUG。优先升级官方最新固件，更换合格 U 盘测试。
6、过热告警故障：Over‑Temp 过温提示，波形刷新率下降，自动关机 故障现象：长时间运行弹出过温告警，波形刷新率降低，严重自动关机。 主要诱因：进风口、散热风扇积灰堵塞，风扇转速衰减；仪器四周通风空间不足。定期清理风道灰尘，保证设备散热条件。
故障现象：DSOX2002A 闲置一年未开机，通电整机无任何动作，风扇不转，面板指示灯全部熄灭；更换电源线，拔掉全部外设故障不变。 故障排查：后面板电源保险丝熔断；拆机检测电源板启动电解电容干涸失效，功率回路 MOS 管、功率电阻过流烧毁；模拟前端、主板无明显烧毁痕迹。 维修处理：更换同规格规格保险丝；更换失效电解电容以及损坏功率器件；上电确认电源各路输出电压正常；整机开机正常启动，执行 User‑Cal 自校准；双通道全部功能验证，拷机 2 小时运行稳定。 故障根源：仪器长期存放，电源电解电容电解质干涸，上电冲击造成电源回路器件烧毁。
故障现象：硬件调试过程，CH2 通道接探头看不到波形，基线位置固定不动；CH1 通道测量同一信号波形正常；更换完好探头故障依旧；运行 User‑Cal 自校准提示 CH2 垂直通道失败。 故障排查：调试误将 22V 直流高压直接接入 CH2 的 BNC 输入端；CH2 通道输入保护二极管、衰减网络元件被击穿，BNC 插座焊点完好。 维修处理：防静电拆卸模拟前端板，更换 CH2 通道损坏保护器件与衰减元件；焊接完成执行 User‑Cal 自校准；外接信号源输入标准信号校验增益、零点指标；双通道比对测试，测量指标恢复出厂规格。 故障根源：操作失误高压直接输入模拟通道，前端保护电路击穿损坏。
故障现象：示波器波形采集、触发、USB 通讯全部正常；旋转时基旋钮，时基档位随机跳变，无法稳定设置；垂直旋钮偶尔也会跳档。 故障排查：实验室粉尘进入前面板时基编码器，触点氧化接触不良；整机硬件自检无报错。 维修处理：拆开前面板，对时基编码器使用精密电子清洁剂清洗，反复旋转旋钮；清洗无效后更换同规格编码器；装配复原整机，旋钮调节顺滑档位切换稳定；整机拷机 2 小时全部功能正常。 故障根源：实验室粉尘侵入面板编码器，触点接触异常。
故障现象：调试中途意外断电，再次上电，REF、MATH 等按键指示灯循环点亮，一直停留在启动阶段，无法进入示波器操作界面；拔掉探头、U 盘外设故障现象不变，无文字报错。 故障排查：电源各路输出电压正常；模拟前端硬件无损坏；异常断电造成 NAND‑Flash 固件镜像损坏，系统无法完成启动加载。 维修处理：制作官方固件修复 U 盘，重新刷写系统固件；固件恢复完成后仪器正常启动；执行 User‑Cal 自校准；双通道测量、波形保存、USB 通讯全部验证，长时间拷机无死机重启。 故障根源：运行过程异常断电，NAND‑Flash 固件镜像损坏。
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