1、开机自检报错，通道自校准失败，报 ADC/DAC 硬件故障 故障现象：开机整机自检不通过，返回通道硬件错误、Self‑Cal 自校准失败；单通道或者双通道报错；面板可操作，但无法开启输出。 主要诱因：测量前端电路受损；精密基准漂移；Sense 回路存在漏电；FPGA 固件异常；内部供电不稳。优先断开全部外部测试线缆，再次执行自检区分机内故障还是外部接线故障。
2、输出无响应、输出锁止保护，Sense 远端补偿报错 Remote Sense Error 故障现象：设置输出电压电流，端子无输出或者输出幅度异常；仪器弹出 Sense 错误保护并关断输出；四端子测试时测量数据跳动剧烈。 主要诱因：Sense 线断线、虚接；Force‑Sense 之间漏电；被测端开路；内部 Sense 采样回路损坏；设备启用远端补偿但未接 Sense 线。
3、测量读数漂移、微电流读数异常偏大 / 跳变，精度严重恶化 故障现象：微弱电流 nA‑fA 量程读数漂移、零点偏移；空载存在异常本底电流；重复测量一致性差；电压输出正常，但电流测量不准。 主要诱因：测试线缆绝缘老化漏电；环境湿度高；静电损伤高阻测量前端；内部测量板绝缘受粉尘污染；基准源老化漂移。fA 级测量对环境、线缆洁净度要求极高。
4、负载短路 / 过流后通道损坏，功率输出异常，大电流模式报错 故障现象：被测件短路之后，该通道无法输出额定电流；开启大电流输出直接触发保护关断；另一通道功能正常。 主要诱因：短路冲击烧毁通道功率输出器件；输出保护电路受损；电流采样电阻损坏。外部短路是功率通道损坏最常见诱因。
5、过温告警 Over‑Temp，风扇报错，LAN/USB 通信间歇性断开，面板卡顿 故障现象：长时间测试弹出过温保护，自动关闭源输出；风扇转速异常；PC 软件时而识别仪器时而失联；面板按键操作反应迟缓。 主要诱因：防尘网、内部风道积灰堵塞；风扇老化转速不足；系统电源纹波增大；固件异常。
故障现象：半导体 IV 测试设备 B2912B，开机自检 Channel1 硬件报错，自校准 Self‑Cal 执行失败；通道 2 一切正常；断开外部所有测试线缆故障依旧，排除外部接线影响。 故障排查：通道 1 高灵敏度测量前端受被测件放电静电冲击，ADC 采集单元受损；基准源、通道 2 硬件完好。故障根源：测试半导体器件时器件残余电荷放电，ESD 冲击微弱电流测量通路。 维修处理：防静电环境维修更换通道 1 测量前端组件；清理内部电路板粉尘污染；重新执行整机自校准、通道精度校准；使用标准电阻做 IV 验证，fA‑A 全量程校验；整机自检全部通过，双通道电压电流精度恢复原厂指标，完成计量交付。 故障根源总结：fA 级精密 SMU 测试半导体器件，测试前做好器件放电；测试工位做好防静电防护，避免静电损伤测量前端。
故障现象：B2912B 进行器件四端子测试，开启 Sense 远端采样，仪器随机弹出 Remote Sense Error，源输出被保护关断；重新插拔测试线短暂恢复，故障反复出现。 故障排查：测试夹具内部 Sense 信号线出现虚接，测试过程振动造成 Sense 回路断续断开；仪器本机 Sense 采样硬件完好。故障根源：长期反复插拔夹具，Sense 信号线内部断线虚接。 维修处理：更换全新四端子测试线缆夹具；检查仪器前面板 Force/Sense 端子有无松动氧化；执行 Sense 回路校验；多次重复四端子 IV 扫描测试，Sense 报错不再复现，输出、测量全部正常。 故障根源总结：SMU 四端子测试，定期检查 Sense 线缆与夹具；开启远端补偿模式必须可靠接好 Sense 回路。
故障现象：实验过程被测样品发生短路，B2912B 通道 2 随即关断输出；之后通道 2 无法输出 3A 额定直流电流；nA 量程零点偏移大；通道 1 功能完全正常。 故障排查：短路冲击造成通道 2 功率输出 MOS 器件损坏，同时电流采样回路受损；主控、基准、通道 1 硬件完好。故障根源：被测负载意外短路，大电流冲击通道功率模块。 维修处理：防静电条件下更换通道 2 功率输出模块与电流采样组件；检查通道保护电路状态；执行完整输出校准、电流零点校准；分别用标准电阻执行小电流、大电流验证；双通道对比测试，输出能力、测量精度恢复出厂指标。 故障根源总结：测试易短路器件，合理设置仪器电流限制；样品上电前确认负载状态，防止突发短路冲击源表通道。
故障现象：B2912B 开机短时间工作正常；连续数小时自动化器件测试，间歇性弹出 Over‑Temp 过温告警并切断输出；PC 端 EasyEXPERT 软件 LAN 通信偶尔超时断开；重启仪器短时间恢复。 故障排查：仪器防尘网、内部风道大量积灰，风扇老化转速下降；机内温度升高，高温间接造成网口通信不稳定；SMU 测量、输出硬件无损坏。故障根源：实验室环境粉尘累积，散热能力下降。 维修处理：整机深度清理防尘网与内部风道，更换老化风扇；校验内部温度传感器；升级主机 FPGA 固件；执行整机自检；长时间满负载拷机运行自动化 IV 测试，过温告警、通信掉线现象不再复现，全部功能指标恢复正常。 故障根源总结：精密 SMU 连续长时间产线 / 实验室测试，定期清理防尘网；仪器四周预留通风空间，不要遮挡进风口。
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