故障 1：不开机、开机黑屏、运行随机死机重启
故障现象：通电无反应，风扇转动屏幕黑屏；自检中途掉电；长时间扫描测试无征兆重启，冷机静置后短暂恢复；部分机型风扇异响后保护关机。
故障根源：①整机电源模块电解电容老化，带载输出电压跌落；②风扇积灰磨损，过热保护；③内置硬盘损坏无法引导系统；④主板备份锂电池亏电，校准常数丢失；⑤电网浪涌损伤 CPU 主板供电回路。
故障特性：故障随温度升高更容易复现；拔掉外部射频线缆故障现象不变。
故障 2：Source Unleveled源电平未锁定报错
故障现象：软件弹窗源未电平锁定；全频段或部分高频段功率跌落，扫描曲线噪声巨大，测量重复性差；重启仪器偶尔短暂恢复；全部端口同时异常，不属于单端口故障。
故障根源：①合成源模块末级放大器、程控衰减器损坏；②ALC 自动电平控制环路漂移；③本振供电纹波超标；④内部半刚性射频接头松动氧化。
故障特性：整机公共激励源故障，开机自检不一定直接报硬件损坏，需要外接功率计校验源功率。
故障 3：Phaselock Lost相位锁相丢失
故障现象：开机自检报 PLL 失锁；曲线剧烈跳动，高频段无输出，整机动态范围严重下降；4 端口双源机型可出现其中一路源失锁。
故障根源：①合成器本振 PLL 环路硬件漂移；②10MHz 参考晶振老化；③源模块供电不稳；④固件版本过低造成合成器控制异常。
故障特性：全部端口同时受影响，属于公共源 / 本振链路故障。
故障 4：单端口射频通路损坏，校准失败，S 参数测量偏差大
故障现象：其余端口指标正常；故障端口 S21 传输幅度下降十几 dB，回波损耗测试异常；执行 SOLT/ECal 电子校准直接报错；更换完好测试线缆、校准件故障不变。
故障根源：DUT 直流电压倒灌、外部大功率反向灌入、ESD 静电，烧毁端口限幅保护二极管、定向耦合器、接收机混频器砖块；2.4mm 接头暴力拆装造成内部射频组件损伤。
故障特性：故障跟随仪器本机端口，线缆交叉测试可以确认仪器硬件损坏。
故障 5：自检 PASS，曲线毛刺多，底噪抬高，重复性差
故障现象：整机硬件自检全部 PASS；校准完成曲线抖动毛刺多；ECal 电子校准件识别超时；测试标准件读数漂移；开启 Bias‑Tee 偏置测试噪声进一步恶化。
故障根源：接收机通路衰减器劣化；Bias‑Tee 内部隔离器件损伤；端口连接器物理磨损；内部半刚性射频线缆微裂纹损耗变大；参考混频器开关触点劣化。
故障特性：开机自诊断不会告警，需要系统性能验证才能暴露问题；有源器件、偏置测试工况高发。
