故障 1：开机自检时报时基 Acq TB 报错，波形无法稳定触发，无波形输出
故障现象：仪器可以正常开机进入系统，硬件自检出现 Acq 4A/4B Time‑Base 报错；接入合格信号，屏幕无波形，触发指示灯不工作；部分情况波形左右随机跑动抖动，抖动指标严重超标；升级固件、恢复出厂配置无效，更换采样模块故障依旧，排除模块本身问题。
故障根源：主机内部时基板是整机等效采样核心，内部参考晶振、延时芯片、预触发计数器老化损坏；时基分配电路故障，无法输出采样触发时序。采样模块本身完好，但没有正确时基触发信号，无法完成波形采集。
故障特性总结：与插入模块无关，更换模块故障不变；自检明确报 TB 时基故障；长期不间断运行、机房温度波动大工况高发。
故障 2：插槽识别异常，部分槽位找不到模块，震动机器偶发模块丢失
故障现象：同一采样模块，插入某一个槽位识别失败，换到其他槽位正常；轻微拍打机箱，模块随机掉线；重新插拔模块可临时恢复；识别成功后，通道测量功能正常。
故障根源：主机背板插槽金手指长期插拔，粉尘堆积、镀层氧化，接触电阻变大；背板插槽信号引脚虚焊。模块本身硬件完好，仅主机背板接口接触异常。
故障特性总结：故障固定某一个槽位，其他槽位工作正常；震动诱发故障；频繁更换模块的实验室、产线高发。
故障 3：光采样模块（80Cxx）光口受损，光功率读数正常，眼图噪声大，SIRC 校准失败
故障现象：接入标准高速光信号，光功率读数显示正常，但眼图底噪抬高、基线漂移，上升时间、消光比测量偏差大；执行 SIRC 系统脉冲响应校正报错失败；清洁光纤端面、更换多条光纤跳线，故障无法消除。
故障根源：光纤插拔磕碰光口，内部耦合透镜偏移、光电探测器局部损伤；TIA 跨阻放大器参数漂移。平均光功率可以读取，但高频采样通路性能劣化，SIRC 校准对高频响应敏感直接报错。
故障特性总结：仅该光模块通道异常，其余电通道正常；光功率读数正常但高频性能损坏；光纤操作磕碰是主要诱因。
故障 4：电采样模块（80EXX）输入过压 / ESD 静电损坏，通道基线漂移、幅度测量不准，严重时通道无响应
故障现象：电通道接入标准幅度信号，基线零点偏移，幅值测量误差超标；严重时通道完全无响应，其余通道正常；自检模块可以被主机识别。
故障根源：被测信号过压、静电冲击，击穿采样桥前端保护二极管、输入衰减网络。模块主控、通信部分完好，模拟采样前端硬件损毁。DSA8300 电采样输入耐压低，TDR 测试被测件带残余电荷极易造成该损伤。
故障特性总结：单通道故障，其他通道正常；模块可以被主机识别；产线 TDR 阻抗测试工位高发。
