故障 1：单通道高频增益劣化，低频波形正常，1GHz～2.5GHz 信号幅值跌落、边沿畸变
仪器开机自检顺利完成，触控系统与其余通道工作稳定。故障通道接入低频标准信号波形无异常；输入 1～2.5GHz 高速时钟、差分串行信号时波形幅度明显衰减，上升沿、下降沿畸变严重。更换射频线缆、InfiniiMax 有源探头并通道交叉比对，故障点位固定；执行通道垂直自校准持续提示高频增益误差超限。基线无长期漂移，仅通道前端信号调理射频通路性能衰退，无法满足 2.5GHz 带宽信号完整性、眼图测量指标，多由输入过压、静电损伤前端射频器件、程控切换元件引发。
故障 2：整机 8 通道本底噪声同步抬升，微小信号测量重复性差，自校正改善维持时间短
仪器充分预热，测试场地接地良好、电磁干扰可控。空载基线噪声持续高于出厂规格，mV 级小幅信号毛刺繁多；电压、上升时间、随机抖动 RJ 多次测量离散度超标。运行整机自校正后短期内好转，连续运行 30 分钟噪声再次恶化。8 通道同时出现同类现象，排除单通道前端损坏；故障根源为主板 ADC 恒温采样基准、参考电压回路滤波电容老化漏电，参考电压叠加交流纹波，信噪比下降。
故障 3：InfiniiMax 有源探头识别失败，无源探头工作正常，无法加载 S 参数补偿
通道连接是德原厂 InfiniiMax 高频有源差分探头，仪器弹窗提示未知探头，无法读取探头序列号、带宽参数、去嵌校正数据；探头在完好同型号主机可正常识别，排除探头本体损坏。清洁 2.4mm 输入接口内部 I2C 通讯触点改善有限，射频主通路正常，仅探头识别通讯链路异常；有源探头带宽增强、信号去嵌功能锁定，高精度微弱信号测量模式无法启用。长期频繁插拔易造成接口触点氧化、通讯回路电阻漂移。
故障 4：开启最大存储深度采集容易卡顿死机，长时序捕获、循环自校准中途终止
短时基础波形采集无明显异常。开启 1.6Gpts 最大存储深度持续录制长时序波形时界面极易冻结卡死；通道自校准、时基 PLL 时钟自检流程经常中途中断，需断电重启恢复。散热风扇运转平稳，无过热告警；调低存储深度后故障概率明显下降。根源为主板高速采集内存供电滤波元件老化，供电纹波超标，LVDS 高速数据流读写产生误码。
