故障 1：单通道高频增益劣化，低频波形正常，1～2GHz 信号幅值跌落、边沿畸变
仪器开机自检正常，触控界面与其余通道运行稳定。故障通道接入低频标准信号波形稳定；接入 1～2GHz 高速时钟、差分串行信号时波形幅度明显衰减，上升沿、下降沿严重失真。更换高质量 BNC 射频线缆、InfiniiMax 有源探头，通道交叉互换比对，故障通道固定不变；执行通道垂直自校准持续提示高频增益误差超限。基线无长期缓慢漂移，仅通道前端信号调理射频通路性能劣化，无法满足 2GHz 带宽信号完整性、眼图与高速电源噪声测量指标。
故障 2：全部通道本底噪声抬升，微小信号测量重复性差，自校正改善维持时间较短
仪器充分预热，测试场地接地可靠、电磁环境稳定。空载基线噪声持续高于出厂规格，mV 级小幅信号毛刺繁多；多次采集电压、周期、随机抖动 RJ 参数，测量结果离散度超出仪器技术规范。整机自校正后短暂恢复正常，连续运行 30 分钟噪声再次恶化。4 通道同步出现同类现象，排除单通道前端器件损坏；故障根源为主板 ADC 采样恒温基准源、参考电压回路滤波电容老化，参考电压叠加交流纹波，降低微弱信号信噪比。
故障 3：InfiniiMax 有源探头识别失败，无源探头工作正常，无法加载 S 参数补偿
通道连接是德原厂 InfiniiMax 高频有源差分探头，示波器弹窗提示未知探头，无法读取探头序列号、带宽配置、去嵌校正数据；探头在完好同型号主机可正常识别，排除探头本体损坏。清洁 BNC 输入接口内部 I2C 通讯触点收效有限，射频主通路收发正常，仅探头识别通讯链路异常；有源探头带宽增强、信号去嵌功能锁定，高精度微弱信号测量模式无法启用。
故障 4：最大存储深度长时间采集容易卡顿死机，长时序捕获、循环自校准中途终止
短时简易波形采集无明显异常。开启 1.6Gpts 最大存储深度持续录制长时序波形时界面极易冻结卡死；通道自校准、时基时钟自检流程经常中途中断，必须断电重启才能恢复。散热风扇运转平稳、无过热告警；调低存储深度后故障显著减少。根源为主板高速采集内存供电滤波元件老化，供电纹波超标，LVDS 高速数据流读写出错。
