故障 1：单通道高频增益劣化，低频波形正常，800MHz～1GHz 信号幅值跌落、边沿畸变
仪器开机自检正常，触控界面与其余通道工作稳定。故障通道接入低频标准信号波形稳定；接入 800MHz~1GHz 高速时钟、差分信号时波形幅度明显衰减，上升沿、下降沿失真。更换 BNC 射频线缆、InfiniiMax 有源探头，通道交叉互换测试，故障通道固定；执行通道垂直自校准持续提示高频增益误差超限。基线无长期漂移，仅通道前端信号调理射频通路性能衰减，无法满足 1GHz 带宽电源噪声、高速数字信号完整性测试要求。
故障 2：8 通道整体本底噪声抬升，微小信号测量重复性差，自校正改善维持时间短
仪器充分预热，测试场地接地完善、电磁干扰可控。空载基线噪声持续高于出厂标准，mV 级小幅信号毛刺密集；多次测量电压、周期、随机抖动 RJ，结果离散度超出仪器规格。整机自校正后短期内恢复正常，连续运行 30 分钟噪声再次恶化。8 通道同时出现同类现象，排除单通道前端器件损坏；根源为主板 ADC 采样恒温基准、参考电压回路滤波电容老化，参考电压叠加交流纹波，造成微弱信号信噪比下降。
故障 3：InfiniiMax 有源差分探头识别异常，无源探头工作正常，无法加载 S 参数补偿
连接 Keysight 原厂 InfiniiMax 高频有源探头，设备弹出未知探头提示，无法读取探头序列号、带宽校正与去嵌参数；探头在完好同型号主机能够正常识别，排除探头故障。清洁 BNC 接口内部 I2C 通讯触点改善有限，射频主通路工作正常，仅探头识别通讯链路故障。有源探头带宽增强、信号去嵌功能锁定，高精度微弱信号测量模式无法启用。
故障 4：最大存储深度长时间采集易卡顿死机，长时序捕获、周期性自校准中途终止
短时简易波形采集无明显异常。开启 1.6Gpts 最大存储深度持续录制长时序波形时界面极易冻结卡死；通道自校准、时基时钟自检经常中途中断，需断电重启恢复。散热风扇运转平稳，无过热告警；调低存储深度后故障明显减少。主要原因是主板高速采集内存供电滤波电容老化，供电纹波过大，LVDS 高速数据流读写出错。
