故障 1：单通道高频增益劣化，低频波形正常，3～6GHz 信号幅值跌落、边沿畸变
仪器开机自检正常，触控操作与其余通道工作稳定。故障通道接入低频标准信号波形完好；接入 3～6GHz 高速时钟、差分串行信号时信号幅度明显衰减，信号上升 / 下降沿严重失真。更换高质量射频测试线缆、原厂 InfiniiMax 有源探头，交叉通道对比测试确认故障通道固定；执行通道垂直自校准持续弹出高频增益误差超限告警。基线无长期缓慢漂移，仅通道前端信号调理射频通路性能劣化，无法满足 6GHz 带宽眼图、高速信号完整性测试指标。
故障 2：整机通道本底噪声抬升，微小信号测量重复性差，自校正改善时效较短
仪器充分预热，测试场地接地良好、电磁干扰可控。空载基线噪声持续高于出厂标准，mV 级小幅信号毛刺密集；多次采集电压、周期、随机抖动 RJ 等参数，测量结果离散度超出规格。执行整机自校正后短暂恢复，连续运行半小时噪声再次恶化。4 通道同时出现相同现象，排除单通道前端损坏；故障根源为主板 ADC 采样恒温基准源、参考电压回路滤波电容老化，参考电压叠加交流纹波，恶化微弱信号测量精度。
故障 3：InfiniiMax 有源探头识别失败，无源探头工作正常，无法加载 S 参数补偿
通道连接 Keysight 原厂 InfiniiMax 高频有源差分探头，仪器提示未知探头，无法读取探头序列号、带宽配置与去嵌校正数据；探头在完好同型号主机可以正常识别，排除探头本身损坏。清洁 2.4mm 输入接口内部 I2C 通讯触点效果有限，射频主通路收发正常，仅探头识别通讯链路异常，有源探头带宽增强、信号去嵌功能被锁定，高精度精密测量模式无法启用。
故障 4：最大存储深度长时间采集容易卡顿死机，长时序捕获、循环自校准中途终止
短时间简易波形采集无异常。开启最大 1.6Gpts 存储深度持续录制长时序波形时界面极易冻结卡死；执行通道自校准、时基时钟自检流程经常中途中断，只能断电重启恢复。散热风扇运转平稳，不存在过热告警；降低存储深度后故障发生率明显下降。一般为主板高速采集内存供电滤波元件老化，供电纹波超标，LVDS 高速数据流读写发生错误。
