故障 1：单通道高频增益衰减，低频波形正常，1GHz~2GHz 信号幅值跌落、信号边沿失真
仪器开机自检顺利完成，触控界面与其余通道工作稳定。故障通道接入低频标准信号波形正常；输入 1～2GHz 高速时钟、差分信号时波形幅度明显下降，上升 / 下降沿畸变。更换 BNC 线缆、InfiniiMax 有源探头交叉比对，故障位置固定；执行通道垂直自校准持续提示高频增益超限。基线无持续性漂移，仅通道前端信号调理射频通路老化，无法满足 2GHz 带宽电源噪声、高速串行信号测量标准。
故障 2：全部通道本底噪声显著抬高，微弱信号测试重复性差，自校准改善持续时间短
仪器充分预热，测试环境接地良好、电磁干扰可控。空载基线噪声持续高于出厂规格，mV 级小信号毛刺严重；多次测量电压、周期、随机抖动 RJ，结果离散度超标。运行整机自校正后短期内好转，持续工作半小时噪声再次恶化。8 个通道同时出现同类问题，排除单通道前端损坏；根源为 ADC 采样恒温基准电路、参考电压回路滤波电容老化，参考电压叠加交流纹波。
故障 3：InfiniiMax 有源差分探头识别异常，无源探头工作正常，无法自动加载 S 参数补偿
连接是德原厂 InfiniiMax 有源探头，仪器弹窗提示未知探头，无法读取探头序列号、带宽校正参数；探头在完好同主机识别正常，排除探头损坏。清洁 BNC 接口内部 I2C 通讯触点无效，射频接收通路正常，仅探头识别通讯链路故障。有源探头带宽增强、信号去嵌功能锁定，高精度微弱信号测量模式无法启用。
故障 4：满存储深度长时间采集容易卡死，长时序捕获、周期性自校准中途报错终止
短时间简易波形采集无异常。开启最大 1.6Gpts 存储长度持续记录长波形时界面极易冻结；通道自校准、时基自检流程经常中途中断，只能断电重启恢复。散热风扇运转正常、无过热告警；降低存储深度后故障明显减少。主要原因是高速采集内存供电滤波电容老化，供电纹波过大，LVDS 高速数据流读写出错。
