故障 1：单通道高频增益劣化，低频波形正常，20GHz 以上信号幅值衰减、边沿畸变
仪器开机自检可正常完成，触控操作、其余通道运行稳定。故障通道接入低频标准信号，波形显示正常；接入 20GHz 以上高速射频、差分串行信号时波形幅度明显跌落，上升 / 下降沿严重失真。更换合格 2.4mm 高频测试线缆、原厂 PrecisionProbe 有源探头，通道交叉互换验证，故障位置固定；执行通道自校准持续提示高频增益误差超限。基线无明显漂移，仅通道前端磷化铟射频通路性能劣化，无法满足 33GHz 带宽眼图、抖动与高速信号完整性测试要求。
故障 2：全通道本底噪声异常抬高，微小信号测量重复性差，自校正改善时效短
仪器充分预热，实验室电磁环境稳定、接地规范。空载基线噪声持续高于出厂典型指标，小幅值被测信号波形毛刺密集；多次采集电压、上升时间、随机抖动 RJ 参数，测量波动超出仪器技术规格。执行整机用户自校正后短时间好转，连续运行 30 分钟噪声再次恶化。四通道同步出现同类现象，排除单通道前端损坏；故障根源为主板 ADC 采样恒温基准、参考电压回路滤波元件老化，参考电压叠加交流纹波，恶化微弱信号测量精度。
故障 3：PrecisionProbe 高频有源探头识别失败，无源探头工作正常，无法加载探头 S 参数补偿
通道连接是德原厂高频有源探头，示波器持续提示未知探头，无法读取探头序列号、带宽配置、S 参数校正数据；探头在同型号完好主机识别正常，排除探头本体损坏。清洁 2.4mm 通道接口内部 I2C 通讯触点无效，射频信号收发通路正常，仅探头识别通讯链路异常，有源探头带宽增强、去嵌补偿功能被锁定，高速精密测量模式无法启用。
故障 4：开启最大存储深度采集易死机，长时序波形捕获界面卡顿，时钟 PLL 自检中途报错终止
基础短时波形采集无明显异常。开启最大 2Gpts 存储深度持续记录长时序波形时界面极易冻结卡死；运行整机通道自校准、时钟锁相环 PLL 自检流程经常中途终止，仅能断电重启恢复。设备散热风扇运转平稳，无过热告警；调低存储深度后故障概率显著下降，一般为主板高速采集内存供电滤波电容老化，供电纹波超标，LVDS 高速数据流读写不稳定。
