故障 1：单通道高频响应劣化，低频波形正常，6GHz~8GHz 信号幅值衰减、边沿畸变
整机开机自检顺利完成，触控操作、其余通道工作状态正常。故障通道接入低频标准信号，波形显示正常稳定；接入 6GHz 以上高频射频信号、高速数字脉冲时，波形幅度明显跌落，上升 / 下降沿严重失真。更换合格 2.4mm 高频线缆、配套 SmartProbe 有源探头，互换通道交叉验证，故障位置固定不变；执行通道自校准程序，提示高频增益误差超标。基线无明显偏移，仅前端高频信号通路性能衰减，无法满足 8GHz 带宽信号完整性测试需求。
故障 2：全通道本底噪声抬高，小信号测量重复性差，整机自校正改善时效短
仪器充分预热，测试实验室电磁环境稳定、接地规范。空载状态下基线噪声显著高于出厂典型指标，小幅值被测信号波形毛刺繁多；多次重复采集电压、上升时间、抖动参数，测量波动超出仪器技术规格。执行整机自校正之后短时间内有所好转，连续运行 30 分钟噪声再次恶化。四通道同步出现相同现象，排除单通道前端损坏，故障根源多为 ADC 采样基准供电、参考电压回路元件老化、电压漂移。
故障 3：SmartProbe 高频有源探头识别失败，无源探头工作正常，无法自动加载探头参数
通道连接 RIGOL 原厂配套高频有源探头，仪器持续提示未知探头，无法读取探头序列号、补偿参数、带宽限制配置；探头在同型号完好主机上识别正常，排除探头本体损坏。清洁 2.4mm 通道接口内部通讯触点无效，射频信号通路收发正常，仅探头 I2C 识别通讯链路异常，有源探头带宽模式、自动补偿功能无法启用。
故障 4：开启最大存储深度采集容易死机，长时间波形捕获界面卡顿，自校准中途中断
基础短时长波形采集无明显异常。开启大容量存储深度持续记录长时序波形时界面极易冻结卡死；运行整机通道自校准流程经常中途终止，只能断电重启恢复工作。设备散热风扇运转平稳，无过热告警；调低存储深度后故障发生概率显著下降，一般为主板高速存储单元供电滤波元件老化，供电纹波超标导致采样数据读写不稳定。
