故障 1：单通道高频响应衰减，低频波形正常，8GHz 以上信号幅值跌落、边沿畸变
整机开机自检正常，触控、其余通道运行无异常。故障通道接入低频标准信号波形显示正常；接入 8～10GHz 高频射频信号、高速差分脉冲时信号幅度明显衰减，上升沿、下降沿严重变形。更换合格 2.4mm 测试线缆、配套有源探头、互换通道测试，故障位置固定；执行通道自校准提示高频增益误差超限。基线无明显漂移，仅前端高频通路性能劣化，无法开展 10GHz 带宽信号完整性测试。
故障 2：全通道本底噪声抬高，微小信号测量重复性差，整机自校正改善维持时间短
仪器充分预热，实验室电磁环境稳定、接地规范。空载基线噪声显著高于出厂指标，小幅值信号波形毛刺繁多；多次采集电压、上升时间参数，测量波动超出仪器技术指标。执行整机自校正后短时间好转，持续运行 30 分钟噪声再次恶化。四个通道同步出现同类现象，排除单通道前端损坏，大概率为 ADC 采样基准供电、参考电压回路元件老化漂移。
故障 3：高频有源探头识别失败，无源探头可正常使用，无法自动加载探头配置参数
通道连接 RIGOL 配套高频有源探头，仪器持续提示未知探头，无法读取探头序列号、补偿参数、带宽限制；探头在同型号完好主机识别正常，排除探头本体故障。清洁 2.4mm 通道接口内部通讯触点无效，射频信号通路收发正常，仅探头 I2C 识别通讯链路异常，有源探头带宽模式、补偿功能无法启用。
故障 4：开启最大存储深度采集易死机，长时间波形捕获界面卡顿，自校准程序中途中断
基础短时长采集测量无明显异常。开启大容量存储深度持续记录长波形时界面极易冻结；运行整机通道自校准时常中途终止，仅能断电重启恢复。设备散热风扇运转平稳，无过热告警；调低存储深度后故障发生概率明显下降，一般为主板高速存储单元供电滤波元件老化，供电纹波超标。
