故障 1：单通道高频响应劣化，低频波形正常，15GHz 以上信号幅值衰减失真
设备开机自检正常，触控操作、其余通道工作无异常。故障通道接入低频标准信号，波形显示正常；接入 15GHz 以上高频射频信号、高速脉冲时信号幅度明显衰减，边沿畸变。更换 2.92mm 测试线缆、有源探头、互换通道测试，故障固定；执行通道自校准提示高频增益误差超限。基线无漂移，仅高频通路性能下降，无法开展 20GHz 带宽信号完整性测试。
故障 2：全通道底噪抬升，小信号测量重复性差，自校正仅短暂改善
仪器充分预热，测试环境无电磁干扰、接地良好。空载基线噪声显著高于出厂指标，小幅值信号波形毛刺繁多；多次测量电压、上升时间，数据波动超出仪器规格。执行整机自校正之后短时间内好转，持续运行半小时噪声再次恶化。四通道同步出现同类现象，排除单路前端损坏，多为 ADC 参考电压回路元件老化漂移。
故障 3：高频有源探头识别失败，无源探头工作正常，无法自动加载探头参数
通道连接鼎阳配套高频有源探头，仪器持续提示未知探头，不能读取探头型号、补偿参数与带宽限制；探头在完好同机型示波器识别正常，排除探头本体故障。清洁 2.92mm 接口内部通讯触点无效，射频信号通路正常，仅探头 I2C 识别通讯链路异常，有源探头无法启用完整测试模式。
故障 4：满存储深度采集容易死机，长时间波形捕获卡顿，自校准程序中途中断
基础短时长测量无明显异常。开启最大存储深度持续采集长波形时界面极易冻结；运行整机通道自校准时常中途终止，只能断电重启恢复。设备风扇运转正常，无过热告警；调低存储深度后故障概率下降，一般为主板高速存储供电滤波元件老化，供电纹波过大。
