故障 1：无法开机、指示灯不亮、网分识别不到校准件
故障现象：连接 USB 无电源指示灯，网分硬件列表无法刷新出 N4691A 设备，自检直接提示「ECAL 通讯丢失」。
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USB 母座长期插拔氧化、引脚虚焊，供电 + 数据引脚断裂；线材内阻过大、劣质 USB 线缆供电不足。
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内部 5V 稳压芯片烧毁、供电回路保险熔断，大多由静电浪涌、热插拔带电插拔端口导致。
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主控 MCU 固件损坏、EEPROM 芯片失效，校准件上电无法初始化。
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老旧 8753 网分搭配转接套件时，并口时序不匹配，表现为间歇性失联。
故障 2：端口连接器损坏，高频校准严重超差
故障现象：低频（＜2GHz）校准正常，10GHz 以上校准方向性恶化、反射测试误差＞0.1dB；端口插针歪斜、外导体崩缺、端面磨损发黑。
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未使用扭力扳手拧紧接头，大力插拔造成 3.5mm 公针弯曲、介质崩裂，是该机型最高发故障（维修工单占比 33%）与非网。
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端口未佩戴保护帽，粉尘、锡渣进入腔体，射频接触面氧化产生驻波。
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跌落磕碰导致射频腔体内部金丝引线脱焊，高频通路阻抗失配。
本机 3.5mm 端口高频耐受力矩仅0.9N·m，超力矩拧紧极易永久损毁端口。
故障 3：校准中途报错、自检失败，切换标准状态卡死
故障现象：执行二端口校准过程中断报错Switch Fault，卡在开路 / 短路 / 负载切换步骤，无法完成校准流程。
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射频腔体内固态 PIN 开关老化、漏电，切换通路接触电阻变大，标准阻抗偏离出厂定值。
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腔体受潮水汽凝结，开关芯片漏电短路，温度低于 20℃故障概率显著上升。
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EEPROM 内原厂校准 S 参数丢失、错乱，网分读取校准矩阵校验失败。
故障 4：校准结果整体漂移，测试 S 参数全部不准
故障现象：校准可以跑完流程，但测试标准负载反射值偏离标称值，传输损耗误差偏大，无固定报错。
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长期使用造成内置匹配负载、开路标准温漂老化，腔体温度常年＞35℃加速性能劣化。
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环境温度突变＞5℃未重新校准 ECal，内部标准阻抗随温度偏移。
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维修更换端口后未重新溯源校准，新旧端口阻抗不匹配。
故障 5：USB 通讯断断续续，校准随机中断
故障现象：有时可正常识别校准件，校准到中段突然断开连接，更换 USB 线材偶尔恢复正常。
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主板 USB 焊盘疲劳脱焊、差分数据线虚焊，震动工况下时通时断。
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主控晶振频偏超标，USB 时序错乱，网分与校准件握手失败。
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实验室变频器、大功率射频设备产生电磁干扰，窜入 USB 总线干扰通讯。
