故障 1：无法上电、开机蜂鸣不开机、满载高温反复重启
故障现象：接通市电待机灯亮起，开机发出蜂鸣告警、黑屏无自检；进入系统 15~28 分钟无故断电重启，电源仓内部滋滋异响；风道积灰堵塞后仪器触发温控保护锁机。
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多路隔离开关电源老化，采样模块、时基主板供电支路电解电容鼓包漏液，3.3V/±12V 供电纹波超标，采样前端芯片触发过流保护，约 68% 不开机故障由电源模组损坏引发。
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整机上下风道堵塞、涡轮散热风扇轴承磨损停转，恒温晶振与时基芯片持续升温，主板温控电路切断整机供电进行硬件防护。
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主控板 CMOS 纽扣电池亏电，丢失通道校准参数、BIOS 配置错乱，上电自检循环重启，每次开机系统时间自动重置。
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上电自检中途强行断电，会造成非易失 RAM 配置错乱，表现为反复卡在自检流程无法进入系统泰克。
故障 2：开机自检失败、无法识别 80E/80C 采样模块
故障现象：整机自检弹出Acq通道TB报错，空置插槽自检正常，插入任意采样模块立刻自检失败，无法调取波形。
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仪器背板插槽镀金触点受潮氧化发黑、搬迁震动造成背板高速排线虚焊，主机与采样模块通讯中断。
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采样模块内部供电保险丝熔断、前端 TIA 跨阻放大器静电损毁，故障模块拉低背板总线电压，造成整机自检崩溃。
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时基主板恒温晶振老化频偏超标、相位同步芯片失效，主机无法和采样模块完成时序同步，判定模块异常报错。
故障 3：通道无波形、基线噪声暴增、暗电平补偿失败
故障现象：空载通道底噪达到出厂指标 3~6 倍，接入标准高速信号无波形输出；执行暗电平校准中途报错终止，光眼图完全闭合无法观测。
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高压误接入采样端口击穿前端电路：电气通道 50Ω 模式耐压仅±1.5V 峰值，超压直接烧毁采样二极管与放大芯片；光模块光纤端面脏污、静电击穿 APD 光电管，出现无光响应故障。
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环境温度突变＞3℃未做暗电平校准，模块暗电平温漂累积，采样基准电平偏移，补偿流程无法完成。
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实验室接地不良、变频器电磁干扰串入地线，额外叠加噪声，抖动、幅值测量数值随机跳变失真。
故障 4：触发持续漂移、TDR 无反射波形、10MHz 时钟无法锁定
故障现象：时钟恢复、码型触发模式下波形不停跑动，调节触发电平无法稳定；TDR 模式无阻抗反射波形，无法开展 PCB 阻抗测试；外接 10MHz 参考时钟始终失锁。
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独立时基板触发比较器芯片老化、相位同步线路虚焊，主机时基与采样模块时序错位，无法捕获 ps 级高速边沿信号。
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TDR 阶跃脉冲发射驱动芯片烧毁、背板 PROBE POWER 供电断路，TDR 激励脉冲无法输出，直接无反射波形。
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背板 10MHz 参考时钟耦合电容损坏，外部基准时钟无法接入同步，仪器仅依靠老化内部晶振运行，触发稳定性极差。
