案例 1：通道自检 Offset Overload 报错，无输出，其余 SMU 正常
故障现象
主机开机全部模块识别正常，仅 4200-SMU 通道执行 IV 扫描立刻弹窗 Offset Overload，输出自动切断；更换标准电阻、Triax 线缆故障不变；互换插槽故障跟随模块转移。
排查过程
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拆机测量输出级双路 MOS 功率管，其中一路击穿短路；采样 100Ω 精密电阻开路；
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前级差分运放输出偏移超 ±1V，模块存储 EEPROM 校准数据损坏；
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模块内部自校准程序无法补偿零点偏移，硬件持续判定过载。
维修方案
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更换同规格功率 MOS 管、高精度采样电阻、低噪声差分运算放大器；
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清洁 PCIe 金手指，重新写入原厂校准参数；
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执行全量程 SMU 自动校准，空载、标准电阻负载复测 ±20V/100mA 全量程，无过载报错，电流电压测量精度恢复出厂指标。
案例 2：微电流 pA 量程读数漂移巨大，基线噪声超标 10 倍
故障现象
直流大电流测量正常；测试 pA 级暗电流时读数缓慢漂移，基线噪声极大，多次清零无改善；更换全新低漏 Triax 线缆无效。
排查过程
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拆解模块前置放大区域，PCB 表面粉尘受潮，三同轴输入端子绝缘层积灰产生漏电流；
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预放恒温热敏电阻老化，控温波动 ±3℃，加剧零点漂移；
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前置滤波电容容量衰减，无法抑制低频噪声。
维修方案
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无水异丙醇清洗输入端子与前置 PCB，烘干除潮；更换恒温热敏电阻、高精度滤波电容；
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执行微电流专用零点校准，屏蔽接地优化；
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8 小时连续稳定性测试，pA 量程漂移＜5fA，噪声恢复原厂标准。
案例 3：软件识别不到 4200-SMU 模块，自检初始化卡死
故障现象
主机开机进入 KCon 配置界面，仅该 4200-SMU 显示未识别，其余通道正常；插拔模块、清洁金手指无改善；更换插槽依旧无法枚举。
排查过程
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测量模块 PCIe 通讯缓冲芯片供电，时钟信号无波形输出，芯片静电击穿；
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读取模块 Flash 固件校验码，校验失败，固件局部损坏。
维修方案
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更换 PCIe 信号缓冲芯片，重新烧录原厂标准固件；
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检测背板插槽总线电压，修复轻微虚焊；
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重启主机，KCon 完整识别模块，开机自检全部 Pass，IV 扫描、脉冲模式均可正常运行。
