产品概览
Agilent HP 4155B 半导体参数分析仪提供四个内置源/监控单元 (SMU)、两个电压源单元 (VSU) 和两个电压监控单元 (VMU)。HP 4155B 具有非开尔文连接、10 V 分辨率和 100 mA/100 Ohm 测量范围，最适合基本半导体应用。
特点：
高分辨率/准确度和宽范围。I：1 fA 至 1 A（20 fA 偏移精度），V：1µV 至 200 V
使用直流或脉冲模式进行全自动 IV 扫描测量
可扩展至 6 个 SMU
同步压力/测量功能
两个高压脉冲发生器单元 (±40 V)
时域测量：60µs – 可变间隔，最多 10,001 个点
易于使用：类似于曲线跟踪器的旋钮扫描
自动分析功能
自动化：内置 HP Instrument BASIC，触发 I/O 功能
,Product Overview：
The Agilent HP 4155B Semiconductor Parameter Analyzer features four built-in source/meter units (SMUs), two voltage source units (VSUs), and two voltage meter units (VMUs). The HP 4155B has non-Kelvin connection, 10 V resolution, and a measurement range of 100 mA/100 Ohm, making it ideal for basic semiconductor applications.
Feature:
High resolution/accuracy and wide range. I: 1 fA to 1 A (20 fA offset accuracy), V: 1 µV to 200 V
Carries out fully automatic IV scan measurements using DC or pulse mode
Can be expanded to 6 SMUs
Synchronous pressure/measurement function
Two high-voltage pulse generator units (±40 V)
Time-domain measurement: 60 µs — variable intervals, up to 10,001 points
Easy to use: knob scanning similar to curve tracker
Automatic analysis function
Automation: built-in HP Instrument BASIC, trigger I/O function
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