描述:
AQ6370C是横河电机的光学分析仪。光谱分析仪,也称为光学分析仪,是一种测量光源功率的精密仪器。该电子测试设备用于监视指定波长范围内的功率分配。它在图形中显示测量值,其中功率是垂直刻度,波长是水平刻度。
附加功能:
标准和高性能模型
有两种型号,标准和高性能。高性能模型可提供更高的波长精度和动态范围。高波长分辨率:0.02nm
技术指标
波长范围
标准(-10)
高性能(-20)
超高动态范围:典型值78dB。
标准(-10)
高性能(-20)
滤镜边缘更清晰
高性能模型还可以在峰值波长的0.2nm范围内实现更高的动态范围。借助单色仪更清晰的光谱特性,可以清晰地分离并精确测量附近的光谱信号。
标准(-10)
高性能(-20)
杂散光抑制比:典型值80dB。
当不使用通常需要较长测量时间的高动态模式时,此新规范提供了杂散光抑制功能。AQ6370C具有高杂散光抑制比,有助于缩短测量时间。
宽电平范围:+ 20DBm至-90dBm
AQ6370C可以测量高功率源,例如拉曼放大器的光放大器和泵浦激光器,以及非常弱的光信号。根据测试应用和测量速度要求,可以从七个类别中选择测量灵敏度。
自由空间输入
出色的效率
AQ6370C具有先进的单色仪,更快的电路和降噪技术,即使从DFB-LD或DWDM信号测量陡峭光谱,或从宽带光源测量低功率信号,也能实现快速测量速度。
宽扫宽而高分辨率
50001个数据采样点可在一次扫描中扩展测量范围,同时保持较高的波长分辨率。与常规系统相比,这使您的测量更轻松,更高效。
操作简便
轨迹缩放
鼠标和键盘操作
简易数据处理
各种分析功能
7条单独痕迹
13种常用分析的光谱分析功能,例如:
建立自动化测试系统
宏编程
快速远程接口
易于保持准确
对光学精密产品(如光谱分析仪)的环境条件变化,振动和冲击会影响光学组件,并最终降低光学性能。使用标准功能,AQ6370C可以在几分钟内保持其高光学性能,因此您可以快速开始测量。
AQ6370C的整体高性能不仅可以涵盖光学设备和光学传输系统的制造,而且还可以进行研发以及多种其他应用:
描述:
AQ6370C是横河电机的光学分析仪。光谱分析仪,也称为光学分析仪,是一种测量光源功率的精密仪器。该电子测试设备用于监视指定波长范围内的功率分配。它在图形中显示测量值,其中功率是垂直刻度,波长是水平刻度。
附加功能:
标准和高性能模型
有两种型号,标准和高性能。高性能模型可提供更高的波长精度和动态范围。高波长分辨率:0.02nm
技术指标
波长范围
标准(-10)
高性能(-20)
超高动态范围:典型值78dB。
标准(-10)
高性能(-20)
滤镜边缘更清晰
高性能模型还可以在峰值波长的0.2nm范围内实现更高的动态范围。借助单色仪更清晰的光谱特性,可以清晰地分离并精确测量附近的光谱信号。
标准(-10)
高性能(-20)
杂散光抑制比:典型值80dB。
当不使用通常需要较长测量时间的高动态模式时,此新规范提供了杂散光抑制功能。AQ6370C具有高杂散光抑制比,有助于缩短测量时间。
宽电平范围:+ 20DBm至-90dBm
AQ6370C可以测量高功率源,例如拉曼放大器的光放大器和泵浦激光器,以及非常弱的光信号。根据测试应用和测量速度要求,可以从七个类别中选择测量灵敏度。
自由空间输入
出色的效率
AQ6370C具有先进的单色仪,更快的电路和降噪技术,即使从DFB-LD或DWDM信号测量陡峭光谱,或从宽带光源测量低功率信号,也能实现快速测量速度。
宽扫宽而高分辨率
50001个数据采样点可在一次扫描中扩展测量范围,同时保持较高的波长分辨率。与常规系统相比,这使您的测量更轻松,更高效。
操作简便
轨迹缩放
鼠标和键盘操作
简易数据处理
各种分析功能
7条单独痕迹
13种常用分析的光谱分析功能,例如:
建立自动化测试系统
宏编程
快速远程接口
易于保持准确
对光学精密产品(如光谱分析仪)的环境条件变化,振动和冲击会影响光学组件,并最终降低光学性能。使用标准功能,AQ6370C可以在几分钟内保持其高光学性能,因此您可以快速开始测量。
AQ6370C的整体高性能不仅可以涵盖光学设备和光学传输系统的制造,而且还可以进行研发以及多种其他应用:
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