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| 选件 | 是否计量 | 发货周期 | 保修时间 | 成色 |
|---|---|---|---|---|
| 否 | 5天 | 90天 | 8成新 | |
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| 深圳市 | 完好 |
SR250 门控积分器是一款多功能、高速 NIM 模块，旨在从嘈杂的背景中恢复快速模拟信号。SR250 由一个栅极发生器、一个快速门控积分器和指数平均电路组成。内部或外部触发的门发生器提供从几纳秒到 100 ms 的可调延迟，然后生成宽度在 2 ns 到 15 μs 之间的连续可调门。门延迟可以从前面板设置，也可以通过施加后面板控制电压来自动扫描。扫描门限可以恢复整个波形。
快速门控积分器在门限期间对输入信号进行积分。然后，积分器的输出通过门宽进行归一化，以提供与采样门期间输入信号平均值成正比的电压。该信号由低压降采样保持放大器进一步放大和采样，并通过前面板 BNC 连接器输出。最后一个样本输出提供了对信号的逐个分析，使仪器成为计算机数据采集系统中特别有用的组件。
触发
SR250 可以在内部或外部触发。内部速率发生器在 0.5 Hz 至 20 kHz 范围内连续可变，范围为 9 个。外部触发脉冲可短至 5 ns，允许使用光电二极管和光电倍增管的快速脉冲触发该装置。还可以选择单发和线触发。
信号输入
仪器的灵敏度（输出电压/电压输入）可设置为 1 V/1 V 至 1 V/5 mV。如果需要额外的增益，SR250 可以与 SR240 前置放大器一起使用。输入受到 100 V 保护，具有 1 MΩ 的输入阻抗。输入滤波器在积分器对输入进行采样之前拒绝不需要的信号。不需要的 DC 输入偏移很容易用 10 圈电位计消除。
Gate Timing（门限定时）
来自触发器的样本门限的延迟由 delay multiplier 和 scale 设置。延迟刻度乘以 10 圈乘法器刻度盘上的设置，允许从几纳秒到 100 毫秒的连续可调延迟。延迟乘法器也可以从后面板控制电压输入更改，这在需要扫描门的应用中是一个有用的功能。此输入端的 0 到 10 伏特会覆盖前面板 0 到 10× 的延迟乘法器。从触发器到门的插入延迟仅为 25 ns，门限延迟抖动仅为满量程延迟的 20 ps + 0.01 %。
采样门的宽度可以在 8 个宽度范围内从 2 ns 到 15 μs 连续调整。对该装置进行简单修改后，门宽可达 150 μs。前面板门输出提供门的表示，可以与示波器上的信号叠加，以提供门定时的精确显示。
信号输出
可以从前面板中选择 1 到 10,000 个样品的移动指数平均值。这种传统的平均技术对于从嘈杂的背景中提取小信号非常有用。在随机白噪声背景的情况下，信噪比增加平均值中样本数的平方根。单独使用这种技术，S/N 可以提高高达 100 倍。如果不需要平均，或者如果要在计算机上执行平均，则最后一个采样输出提供与最后一个门周期内输入信号的平均值成比例的电压。
平均重置
reset 按钮将 average output 设置为零。平均值也可以通过后面板 logic input 重置。平均复位输入将接受 TTL 信号或接地开关闭合，以复位移动平均输出。
极性控制和主动基线扣除
最后一个采样和平均输出的极性由后面板的拨动开关控制。可以为负信号选择正输出，反之亦然，从而允许与单极模数转换系统轻松连接。除了传统的平均模式外，SR250 还拥有独特的主动基线扣除模式，允许您主动消除基线漂移。在 Active Baseline Subtraction 模式下，SR250 以源重复频率的两倍触发。在备用触发中，当信号不存在时，仅对基线进行采样，并且 SR250 在将最后一个采样输出添加到移动平均之前反转其极性。因此，任何与源无关的基线漂移都将被减去。
其他输出
信号输入通过一段同轴电缆传递到信号输出，用于端接和门定时。它与输入端正好延迟 3.5 ns，并且可以端接以优化信号增益或响应时间。门输出提供与内部门信号同步的脉冲。门限输出是定时的，因此可以与信号输出叠加，以精确调整门限定时。繁忙输出提供 TTL 定时脉冲，该脉冲在设备集成时为高电平，当 SR250 准备好接受另一个触发器时为低电平。这些输出有助于简化实验设置和故障排除。
The SR250 Gated Integrator is a versatile, high-speed NIM module designed to recover fast analog signals from noisy backgrounds. The SR250 consists of a gate generator, a fast gated integrator, and exponential averaging circuits. Internally or externally triggered gate generators provide adjustable delays from a few nanoseconds to 100 ms, and then generate continuously adjustable gates with widths between 2 ns and 15 μs. The gate delay can be set from the front panel or can be automatically scanned by applying the rear panel control voltage. The scan threshold can recover the entire waveform.
The fast gated integrator integrates the input signal during the threshold period. The output of the integrator is then normalized through the gate width to provide a voltage proportional to the average value of the input signal during the sampling gate. This signal is further amplified and sampled by a low-voltage drop sampling hold amplifier and output through a front panel BNC connector. The final sample output provides a case-by-case analysis of the signal, making the instrument a particularly useful component in a computer data acquisition system.
trigger
The SR250 can be triggered internally or externally. The internal rate generator is continuously variable in the range of 0.5 Hz to 20 kHz with a range of 9. External trigger pulses can be as short as 5 ns, allowing the device to be triggered using fast pulses from photodiodes and photomultiplier tubes. Single and line triggers are also available.
Signal input
The sensitivity of the instrument (output voltage/input voltage) can be set from 1 V/1 V to 1 V/5 mV. If additional gain is required, the SR250 can be used with the SR240 preamplifier. The input is protected by 100 V and has an input impedance of 1 MΩ. The input filter is not required to reject the input before the integrator samples it
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