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求购布鲁克 Bruker PI 89 扫描电镜纳米压痕仪

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全新 -- 深圳市 1
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更新日期:2025-04-10
联系电话:0755-86016691

*产品描述

 


Hysitron PI 89 SEM PicoIndenter 利用扫描电子显微镜
 
(SEM、FIBSEM、PFIB)的先进成像功能,可以在成像的同
 
时进行定量纳米力学测试。PI 89 进一步推动了布鲁克市场
 
领先的电容式传感器技术,该技术实现了第一个商用原位
 
SEM 纳米力学平台。新的 PI 89 Auto 为四种技术增加了
 
完全自动化:EBSD、EDS、SEM 成像和机械特性映射。
 
PI 89 上可用的技术包括纳米压痕、拉伸测试、支柱压缩、
 
颗粒压缩、悬臂弯曲、断裂、疲劳、动态测试和机械性能映射。

Hysitron PI 89 的紧凑设计可实现最大的载物台倾斜和最小工作距离,从而在测试过程中实现最佳成像。PI 89 为研究人员提供了比竞争对手系统更大的多功能性和性能:

  • 重新设计的平台提高了多功能性和易用性
  • 1 nm 编码线性平台在自动测试模式下提供更高的可重复性,同时增加行程范围
  • 改进的框架刚度 (~0.9 x 106N/m) 在整个测试过程中提供更高的稳定性
  • 旋转和倾斜 (RT) 载物台配置可实现成像、FIB 铣削,并可使用 EDS、CBD、EBSD 和 TKD 等探测器进行分析数据和成像

 

其他要求

The Hysitron PI 89 SEM PicoIndenter leverages the advanced imaging capabilities of scanning electron microscopes (SEM, FIBSEM, PFIB), making it possible to perform quantitative nanomechanical testing while simultaneously imaging. PI 89 further advances Bruker's market-leading capacitive transducer technology, which enabled the first commercial in-situ SEM nanomechanics platforms. The new PI 89 Auto adds full automation to four techniques: EBSD, EDS, SEM imaging, and mechanical property mapping.

 

Techniques available on PI 89 include nanoindentation, tensile testing, pillar compression, particle compression, cantilever bending, fracture, fatigue, dynamic testing, and mechanical properties mapping.

The compact design of Hysitron PI 89 allows for maximum stage tilt and minimum working distance to enable optimal imaging during testing. PI 89 offers researchers greater versatility and performance than competing systems:

  • Redesigned platform increases versatility and ease of use 
  • 1 nm encoded linear stages provide greater repeatability during automated testing modes while increasing travel range
  • Improved frame stiffness (~0.9 x 106 N/m) delivers greater stability throughout the testing process
  • Rotation and tilt (RT) stage configurations enable imaging, FIB milling, and access to detectors, such as EDS, CBD, EBSD, and TKD for analytical data and imaging

 

 

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