产品描述：
MX61L/ MX61,300mm/200 mm半导体检査显微镜通过各种观察方法--明视场法、暗视场法、微分干涉法(DIC)、荧光法、红外线法和深紫外线法，保证了卓越的图像分辨率和鲜明度。
半导体晶圆检查显微镜（Zui大200mm)，这款显微镜的孔径光阑与物镜相互联锁，能够快速、精确地完成检查。设计符合人体工程学原理，使用起来舒适、自如。符合SEMI S2/S8，拥有安全性与可靠性双重保障。
特点：
MX61系列显微镜完全符合SEMI S2/S8、CE和UL等多项国际规范和标准
半导体晶圆与平板显示器检查显微镜
专为无尘室生产环境设计
拥有多项专门设计的性能，以符合无尘室要求
防静电保护功能，防止晶圆污染
The MX61 series of microscopes fully comply with multiple international specifications and standards such as SEMI S2/S8, CE and UL
Semiconductor wafer inspection microscope with flat panel display
Designed for clean room production environments
Features a number of features specifically designed to meet clean room requirements
Anti-static protection to prevent wafer contamination
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