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| 选件 | 是否计量 | 发货周期 | 保修时间 | 成色 |
|---|---|---|---|---|
| 否 | 3天 | 90天 | 8成新 | |
| 所在地 | 机身号 | 状态 | 资料下载 | |
| 深圳市 | 完好 |
产品概述:
狭缝扫描式光束轮廓分析仪：锗探测器，9mm孔径，5µm狭缝.
该NanoScan狭缝扫描式光束轮廓分析仪通过其锗探测器，精确捕获和分析700nm - 1800nm的波长。该分析仪包括适合于大多数光束的孔径尺寸、近实时数据捕获率、可选功率测量功能等特征，且可在连续或kHz脉冲模式下工作，非常适合于对IR和NIR激光进行全面分析。
参数：
Product Overview:
Scanning-Slit Beam Profiler, Ø9 mm, 5 µm Slit, 700-1800 nm, USB 2.0, NanoScan Pro.
The NS2s-Ge/9/5-PRO scanning-slit profiling system (P/N PH00468) with 9 mm aperture accurately captures and analyzes wavelengths from 700 to 1800 nm with its Germanium detector. It features a 5.0 µm slit size suitable for small beams, near real-time data capture rates, an optional power measurement feature, and operates in CW or kHz Pulsed modes which makes it ideal for comprehensive laser analysis. NanoScan Pro software is included.
parameters：
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