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| 选件 | 是否计量 | 发货周期 | 保修时间 | 成色 |
|---|---|---|---|---|
| 否 | 3天 | 90天 | 8成新 | |
| 所在地 | 机身号 | 状态 | 资料下载 | |
| 深圳市 | 完好 |
产品描述：
MX61L/ MX61,300mm/200 mm半导体检査显微镜通过各种观察方法--明视场法、暗视场法、微分干涉法(DIC)、荧光法、红外线法和深紫外线法，保证了卓越的图像分辨率和鲜明度。
半导体晶圆检查显微镜（Zui大200mm)，这款显微镜的孔径光阑与物镜相互联锁，能够快速、精确地完成检查。设计符合人体工程学原理，使用起来舒适、自如。符合SEMI S2/S8，拥有安全性与可靠性双重保障。
特点：
Semiconductor wafer inspection microscope (up to 200mm), this microscope aperture diaphragm and objective interlock, can quickly and accurately complete the inspection. The design is ergonomic and comfortable to use. Conforms to SEMI S2/S8, with double security and reliability.
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