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租赁安立 MP2100A 比特误码率测试仪

浏览次数:766

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产品参数

选件 状态 设备价值 是否计量
完好 0
成色 发货周期 所在地
8成新 -- 深圳市
租赁价格: 电议
更新日期:2022-08-19
联系电话:0755-86016691

*产品描述

产品描述:

MP2100A 是一种一体化比特误码率测试仪和眼图/脉冲示波器测试解决方案,用于测量光学通信系统中的光有源器件。

为了满足光有源器件生产线上的快速测量需求,相对于传统的误码仪,采用MP2100A远程命令测量能减少 90%的测量选通时间,且眼图/脉冲示波器功能将测量选通采集速度提高300%。 另外,由于采用了同步误码测量和眼图/脉冲示波器分析,测量时间大大缩短。


MX210001A 抖动分析软件具有新型高速抖动测量功能,支持各种一体化测量,如同步抖动分析、眼图测量和眼图模板测量。 另外,高速采样缩短了测量时间,提高了测量效率。 将 MX210001A 与 MATLAB® 相结合,可支持 WDP、TWDP 和 dWDP 测量,用于评估特定信号的波形色散。


将 MX210002A 传输分析软件添加到 BERTWave,可支持 Tx 分析(S21 增益、相位),以及使用均衡器、滤波器的波形模拟(反嵌)和加重操作;同步波形采样和模拟支持同步眼图模式测量和眼图模板测量。 另外,将追踪功能结合到 MX210001A 软件可进行同步波形抖动测量。MATLAB® 是 MathWorks Inc. 的商标。


特点:

  • 一体化比特误码率测试仪和眼图/脉冲示波器

  • 高速远程测试

  • 支持电接口和光接口

  • 高速眼图模板测试

  • 操作简便、内置闪盘,环保

  • 一体化装置,支持抖动、眼图测量

  • 支持所有 WDP (波形色散损耗)测量

  • 同步采样功能和理想均衡器/加重计算,带眼图显示

  • 同步眼图模、眼图模板测试和抖动测量

详细信息

Product Description:

The MP2100A is an all-in-one BERT and Eye/Pulse Scope solution for evaluating optical active devices in optical communication systems.


To meet the need for the fastest possible measurement speeds on production lines for active optical devices, the Gating Time has been slashed by 90% compared to conventional BERT equipment using remote commands and the Eye/Pulse Scope function is 300% faster. In addition, measurement times are much shorter due to the simultaneous BER measurement and Eye pattern analysis.


The MX210001A Jitter Analysis Software has a new, high-speed, jitter-measurement function supporting all-in-one measurements, such as simultaneous jitter analysis, and Eye pattern measurement and Eye mask test measurements. Moreover, the high-speed sampling increases measurement efficiency by cutting measurement time. And Combining the MX210001A with MATLAB® supports WDP, TWDP and dWDP measurements for evaluating the waveform dispersion of specific signals.


Adding the MX210002A Transmission Analysis Software to the BERTWave supports Tx analyses (S21 Gain, Phase), and waveform simulation (de-embedded) using linear equalizer, filter, and emphasis operations; simultaneous waveform sampling and simulation support simultaneous Eye pattern measurement and Eye mask test measurements. Furthermore, combined tracking with the MX210001A software permits simultaneous post-simulation waveform jitter measurement.


Features:

  • All-in-one BER and Eye Pattern Measurements
  • High-speed Remote Tests
  • Supports Electrical and Optical Interfaces
  • High-speed Mask Tests
  • Easy Operability, Flash Disk Drive, and Eco-friendly
  • All-in-one unit supporting simultaneous Jitter, Eye Pattern and Eye Mask measurements
  • Supports all WDP measurements
  • Simultaneous sampling and ideal Equalizer/Emphasis value calculation with Eye display
  • Simultaneous Eye Pattern, Eye Mask and Jitter Measurements for simulation waveform

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