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销售圣德科 wept Test System 快速扫描测试系统

浏览次数:989

产品参数

选件 是否计量 发货周期 保修时间 成色
4-8周 12月 全新
所在地 机身号 状态 资料下载
深圳市 完好
更新日期:2021-12-07
联系电话:0755-86016691

* 产品描述

概要
Santec快速扫描系统由TSL系列可调谐激光器,MPM系列多通道功率计,PCU-100偏振控制器组成。Santec专用的软件使得系统测量IL,WDL和PDL时最优化,既可用于研发,也可用于生产环境。通过实时校正,从可调谐激光器中同时获得输出功率,通过DUT传输到功率计,系统通过穆勒矩阵法提供高精度的IL,WDL,PDL分析。
特性
实时功率校正
精确 WDL/PDL 特性测量
- 高功率重复性 <±0.02 dB
- 高PDL 重复性 ±0.01 dB
缩放算法
- 高波长分辨率及精度
- 减少测量时间
可多通道测量
支持用户图形界面及DLLs (Visual Studio)
- 简易测量参数建立
- 数据分析
WDL(波长相关损耗)测量
可进行80 dB高动态范围测量或更多
Santec可调谐激光器TSL系列创新的腔体设计,可降低光ASE噪音,高信噪比超过90 dB / 0.1 nm以上,并且同时保持高输出功率 + 10 dBm以上。TSL系列可完美针对高密度波分复用(DWDM)和波长选择开关(WSS)等下一代光器件测试。
应用
器件及模块的光学特性:
- 可调谐滤波器, 交织器, 光纤光栅, 耦合器, 分离器, 隔离器, 开关等
- WSS和波长阻隔器
- DWDM器件
硅光子材料特性 , 包括微腔环形谐振器
光谱学
干涉测量


详细信息

outline

Santec fast scanning system consists of TSL series tunable laser, MPM series multi-channel power meter and pcu-100 polarization controller. Santec's dedicated software optimizes the system when measuring IL, WDL and PDL, which can be used in both R & D and production environments. Through real-time correction, the output power is simultaneously obtained from the tunable laser and transmitted to the power meter through the DUT. The system provides high-precision IL, WDL and PDL analysis through the Muller matrix method.

characteristic

Real time power correction

Accurate WDL / PDL characteristic measurement

-High power repeatability < ± 0.02 DB

-High PDL repeatability ± 0.01 DB

Scaling algorithm

-High wavelength resolution and accuracy

-Reduce measurement time

Multi channel measurement

Support user graphical interface and DLLs (Visual Studio)

-Establishment of simple measurement parameters

-Data analysis

WDL (wavelength dependent loss) measurement

80 dB high dynamic range measurement or more

The innovative cavity design of Santec tunable laser TSL series can reduce optical ASE noise, with a high signal-to-noise ratio of more than 90 dB / 0.1 nm, while maintaining a high output power of more than + 10 DBM. TSL series can be perfectly tested for next-generation optical devices such as high-density wavelength division multiplexing (DWDM) and wavelength selective switch (WSS).

application

Optical characteristics of devices and modules:

-Tunable filter, interleaver, fiber grating, coupler, separator, isolator, switch, etc

-WSS and wavelength barrier

-DWDM device

Properties of silicon photonic materials, including microcavity ring resonators

spectroscopy

Interferometry

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