产品描述:
Santec PEM-340消光比测试仪采用专利技术制造,可实现1260~1630nm全波段测量,该消光比测试仪具有极高的消光比测试精度、偏振角测试精度,能够测量高达50dB的消光比,并且配备了GPIB接口,适用于偏振光轴调整的光学元器件装配及保偏光纤熔接的质量控制及检测等领域。
技术参数:
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