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| 选件 | 是否计量 | 发货周期 | 保修时间 | 成色 |
|---|---|---|---|---|
| 否 | 15天 | - | 9成新 | |
| 所在地 | 机身号 | 状态 | 资料下载 | |
| - | 完好 |
Keysight / Agilent 81200 / 81250 ParBERT系统和模块
特性
并行误码率测试仪
81200:可配置为675 Mb/s到2.7 Gb/s的分析
81250:可配置为675 Mb/s到45 Gb/s的分析
模块式BER测试平台
生成和分析PRWS、prb和用户定义的模式
描述
81200
安捷伦81200数据发生器/分析仪平台是一个正确的选择，如果你是一个在研发或制造的工程师，执行功能和参数测试的数字子系统，集成电路，或董事会。81200允许在整个开发周期中对数字设备进行彻底的验证和特性描述，从而降低了风险、成本和上市时间。
81200是一个模块化系统，提供200/330/675/2.700Mb/s速度级别的刺激和分析通道。
81250
Agilent ParBERT 81250是一个模块化并行光电比特误码率(BER)测试平台，最高可达45gb /s。ParBERT 81250平台包括675 Mb/s、1.65 Gb/s、2.7 Gb/s、3.35 Gb/s、7 Gb/s、10.8 Gb/s、13.5 Gb/s和45 Gb/s的模块。该系统在平行线上生成伪随机字序列(pseudo random word sequences, PRWS)、标准伪随机二进制序列(standard pseudo random binary sequences, PRBS)和用户自定义模式。您可以使用用户定义的模式、PRBS/PRWS或混合数据(用户定义的模式和prb的组合)来分析误码率。
ParBERT 81250是一个完美的适合并行到串行，串行到并行，串行到串行和多串行误码率测试。例如复用器和多路复用器(Mux/Demux) -或SerDes(串行化/沙漠化)-用于电信和存储区域网络(SAN) ICs的测试，在制造中用于多发射机和多接收机测试，放大器以及10GbE和前向纠错(FEC)设备测试。
它也是集成电路测试仪高速通道的理想扩展。
如果需要，ParBERT 81250也为DUT提供数据和控制信号
用于ParBERT 81250的安捷伦E4861B 3.35 Gb/s模块非常适合测量PCIe、SATA或10GbE等标准的千兆设备。低固有抖动，优越的信号性能和500ps的延迟线为抖动注入提供了深入和准确的特性。多达64个同步通道允许测试并行总线架构或多串行应用程序。
位速率为21 Mb/s，最高为3.35 Gb/s
差分或单端数据输出和输入
抖动注入通过500ps延迟线
每个通道16 Mbit的内存深度
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