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销售吉时利 2520 脉冲激光二极管测试系统

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更新日期：2021-06-23
联系电话：0755-86016691

* 产品描述


吉时利2520型脉冲激光二极管测试系统
特征
  • 简化封装或有源温度控制之前的激光二极管LIV测试
  • 用于芯片或棒级激光二极管工艺中LIV生产测试的集成解决方案
  • 可以将扫描设置为在光功率限制上停止
  • 结合了高精度源和测量功能，可进行脉冲和直流测试
  • 基于同步DSP的测量通道
  • 可编程脉冲导通时间从500ns至5ms，占空比高达4％
描述
吉时利2520型脉冲激光二极管测试系统是一个集成的同步系统，在无法适当控制温度的情况下在制造过程的早期测试激光二极管。 2520型提供了在一台紧凑的半机架式仪器中对激光二极管进行脉冲式和连续式LIV（光电流电压）测试所需的所有源和测量功能。源和测量功能的紧密同步确保了即使在短至500ns的脉冲宽度测试时也具有很高的测量精度。吉时利2520型脉冲激光二极管测试系统是一个集成的同步系统，用于在制造过程的早期对激光二极管进行测试。适当的温度控制不容易实现。 2520型提供了在一台紧凑的半机架式仪器中对激光二极管进行脉冲式和连续式LIV（光电流电压）测试所需的所有源和测量功能。源和测量功能的紧密同步确保了即使在短至500ns的脉冲宽度测试时也具有很高的测量精度。吉时利2520型脉冲激光二极管测试系统是一个集成的同步系统，用于在制造过程的早期对激光二极管进行测试。适当的温度控制不容易实现。 2520型提供了在一台紧凑的半机架式仪器中对激光二极管进行脉冲式和连续式LIV（光电流电压）测试所需的所有源和测量功能。源和测量功能的紧密同步确保了高测量精度，即使在短至500ns的脉冲宽度测试时也是如此。

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详细信息

Keithley Model 2520 Pulsed Laser Diode Test System
Features
  • Simplifies Laser Diode LIV Testing Prior to Packaging or Active Temperature Control
  • Integrated Solution for In-Process LIV Production Testing of Laser Diodes at the Chip or Bar Level
  • Sweep Can be Programmed to Stop on Optical Power Limit
  • Combines High Accuracy Source and Measure Capabilities for Pulsed and DC Testing
  • Synchronized DSP Based Measurement Channels
  • Programmable Pulse on Time from 500ns to 5 ms up to 4% Duty Cycle
Description
The Keithley Model 2520 Pulsed Laser Diode Test System is an integrated, synchronized system for testing laser diodes early in the manufacturing process, when proper temperature control cannot be easily achieved. The Model 2520 provides all sourcing and measurement capabilities needed for pulsed and continuous LIV (light-current-voltage) testing of laser diodes in one compact, half-rack instrument. The tight synchronization of source and measure capabilities ensures high measurement accuracy, even when testing with pulse widths as short as 500ns.The Keithley Model 2520 Pulsed Laser Diode Test System is an integrated, synchronized system for testing laser diodes early in the manufacturing process, when proper temperature control cannot be easily achieved. The Model 2520 provides all sourcing and measurement capabilities needed for pulsed and continuous LIV (light-current-voltage) testing of laser diodes in one compact, half-rack instrument. The tight synchronization of source and measure capabilities ensures high measurement accuracy, even when testing with pulse widths as short as 500ns.The Keithley Model 2520 Pulsed Laser Diode Test System is an integrated, synchronized system for testing laser diodes early in the manufacturing process, when proper temperature control cannot be easily achieved. The Model 2520 provides all sourcing and measurement capabilities needed for pulsed and continuous LIV (light-current-voltage) testing of laser diodes in one compact, half-rack instrument. The tight synchronization of source and measure capabilities ensures high measurement accuracy, even when testing with pulse widths as short as 500ns.

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