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| 选件 | 是否计量 | 发货周期 | 保修时间 | 成色 |
|---|---|---|---|---|
| 8.8dBm(max),1550nm | 否 | 6周 | 12月 | 全新 |
| 所在地 | 机身号 | 状态 | 资料下载 | |
| - | 完好 |
基于SLED的高功率FLS-2200宽带光源系列覆盖了电信应用所需的所有波段。与白光光源相比，它在单模光纤中可以提供更宽的光谱范围及更高的光谱密度。高度稳定的FLS-2200是宽带应用、CWDM网络测试、CWDM与PON元件制造和测试、光纤传感和光谱学的理想选择。
两个光源，一个机箱
在CWDM测试中，覆盖S、C及L 波段的双SLED选项可以通过非常富有成本效益的测试配置来准确地表征光纤链路及其无源元件。对于双窗耦合器及PON元件，使用1300 nm/1550 nm光源。
专为元件测试而设计
EXFO的FLS-2200可沿光谱提供足够的功率，从而可测量高水平的插入损耗。通过将FLS-2200与光谱分析仪（OSA）相结合，您可以有效地在研发阶段鉴定元件的质量，或在生产过程中执行通过/未通过测试。
消偏振
由于光源会自然产生偏振，因此可以使用EXFO的M9700及IQS-9700的无源消偏振器，将偏振度降到5%以内。在测量平均插入损耗或制衡OSA的偏振相关性时这尤为有用。
高光谱密度稳定性
为确保测试设置能够长期产生精确的测量结果，高的光谱密度稳定性至关重要。光谱越稳定，必须获取参考曲线的频率就越小。由此可以实现更高的生产率。使用OSA获取参考曲线后，所有后续曲线可以减去它。在系统中没有被测设备（DUT）的情况下，结果曲线（以平均值为中心）会呈现出光源的典型光谱波动情况。
主要功能
应用
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