求购泰克 DSA8300 数字串行分析仪采样示波器

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更新日期：2021-04-29

联系电话：0755-86016691

*产品描述

总览：

DSA8300是最新的等效时间采样示波器，可为通信信号分析，串行数据网络分析和串行数据链路分析应用提供最高的保真度测量和分析功能。

给欧盟客户的通知

本产品未更新为符合RoHS 2指令2011/65 / EU的规定，因此不会运往欧盟。客户可以从2017年7月22日之前投放到欧盟市场的库存中购买产品，直到耗竭为止。泰克致力于帮助您满足解决方案的需求。请联系您当地的销售代表以获取进一步的帮助，或确定是否有其他替代产品。泰克将继续提供服务，直至全球支持寿命终止。

关键性能指标

低时基抖动：
- 在多达8个同时采集的通道上典型值为425 fs
- 使用82A04B相参考模块在最多6个通道上<100 fs
业界最高的垂直分辨率– 16位A / D
电气分辨率：<20 µV LSB（对于1 v整个范围）
光学分辨率从80C07B（整个范围1 mW）<20 nW到80C10C（整个范围30 mW）<0.6 µW
光学带宽大于80 GHz
电气带宽大于70 GHz
NRZ，RZ和脉冲信号类型的120多种自动测量
超过80种行业标准口罩的自动口罩测试
复杂的抖动/噪声/ BER / SER分析（80SJNB），支持复杂的测量TDECQ 1，SNDR 2（应用程序）

1 PAM4的发射器和色散闭眼四元级。

2信噪比和失真比。

主要特点

各种各样的光学，电气和附件模块可满足您的特定测试要求。

光模块
- 支持50G / 100G / 200G / 400G的155 Mb / s至10 Gb / s至40 Gb / s至100 Gb / s至PAM4的光数据速率的光模块
- 光学参考接收机（ORR）1支持标准要求的一致性测试的特定要求
- 光学采样模块的高光学灵敏度，低噪声和宽动态范围可实现对长距离光通信标准的短距离的准确测试和表征
- 完全校准的时钟恢复解决方案–无需手动校准数据提取损失
- 校准的消光比测量和可变校正ER测量可确保准确性和可重复性
电气模块
- 极低噪声的电气采样器（典型值为20 GHz时为280μV，典型值为60 GHz时为450μV）
- 可选带宽2使用户可以权衡采样器带宽和噪声，以获得最佳数据采集性能
- 远程采样器或紧凑的采样扩展器模块电缆允许采样器紧靠被测设备放置，从而最大程度地降低了信号衰减
- 高性能集成TDR（典型的10 ps逐步上升时间）支持出色的阻抗不连续性表征和高动态范围，适用于50 GHz S参数测量
分析
- 从<1 GBd到60 GBd的高速PAM4和PAM2 NRZ串行数据速率的抖动，噪声和BER分析，可深入了解闭眼的确切原因
- 通过对每个PAM眼进行全面的抖动，噪声和BER分析，以及一组评估整体PAM4信号属性的全局测量，对PAM4信号进行分析
- 100G-SR4 /发射器和色散闭眼器（TDEC）自动化功能为SR4短距离以太网提供了钥匙测试和调试TX光学特性的关键
- 80STDEC简化了高性能发射器和色散眼图闭合（TDEC）测量，使其非常适合制造和一致性验证应用
- 使用80多种行业标准的口罩进行自动口罩测试。可以将新的口罩导入DSA8300，以支持新的新兴标准。用户可以定义自己的口罩以进行自动口罩测试
- 通过80SJNB Essentials和高级软件应用程序选件提供了抖动，噪声，BER，模板测试和串行数据链路分析（SDLA）。
- 高级TDR分析，S参数测量，仿真模型提取和串行链路仿真功能是通过将iConnect提供®软件应用选项
- 400G-M4光学制造分析软件提供了光发射器和色散眼图闭合四级（TDECQ）分析
高测试通量
- 高采样率，每通道高达200 kS / s
- 高效的编程接口（IEEE-488，以太网或本地处理器访问）可实现高测试吞吐量

1光学参考接收器（ORR）是4阶Bessel-Thompson滤波器，具有标准定义的频率响应和容差。泰克优化了响应，以获得最佳的标称配合和最高质量的面罩测试结果。

2有关每个可用模块的详细说明，请参见80E00电气采样模块数据表。

应用领域

电信和数据通信组件与系统的设计/验证
符合ITU / ANSI / IEEE / SONET / SDH的制造/测试
高性能真差TDR测量
包括S参数在内的串行数据应用的阻抗表征和网络分析
先进的抖动，噪声，BER和SDLA分析
使用IConnect进行通道和眼图仿真以及基于测量的建模。

卓越的性能和非凡的多功能性

DSA8300数字串行分析器是用于开发和测试使用千兆位数据传输的通信，计算机和消费类电子产品的最通用的工具。它用于光学和电子发射器特性分析，以及这些产品中使用的设备，模块和系统的符合性验证。

此外，DSA8300非常适合用于电气信号路径检定，无论是用于封装，PCB还是电缆。DSA8300具有出色的带宽，信号保真度和最可扩展的模块化架构，可为当前和新兴的串行数据技术提供最高性能的TDR和互连分析，最准确的信号损伤分析以及BER计算。

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其他要求

总览：

DSA8300是最新的等效时间采样示波器，可为通信信号分析，串行数据网络分析和串行数据链路分析应用提供最高的保真度测量和分析功能。

给欧盟客户的通知

关键性能指标

低时基抖动：
- 在多达8个同时采集的通道上典型值为425 fs
- 使用82A04B相参考模块在最多6个通道上<100 fs
业界最高的垂直分辨率– 16位A / D
电气分辨率：<20 µV LSB（对于1 v整个范围）
光学分辨率从80C07B（整个范围1 mW）<20 nW到80C10C（整个范围30 mW）<0.6 µW
光学带宽大于80 GHz
电气带宽大于70 GHz
NRZ，RZ和脉冲信号类型的120多种自动测量
超过80种行业标准口罩的自动口罩测试
复杂的抖动/噪声/ BER / SER分析（80SJNB），支持复杂的测量TDECQ 1，SNDR 2（应用程序）

1 PAM4的发射器和色散闭眼四元级。

2信噪比和失真比。

主要特点

各种各样的光学，电气和附件模块可满足您的特定测试要求。

光模块
- 支持50G / 100G / 200G / 400G的155 Mb / s至10 Gb / s至40 Gb / s至100 Gb / s至PAM4的光数据速率的光模块
- 光学参考接收机（ORR）1支持标准要求的一致性测试的特定要求
- 光学采样模块的高光学灵敏度，低噪声和宽动态范围可实现对长距离光通信标准的短距离的准确测试和表征
- 完全校准的时钟恢复解决方案–无需手动校准数据提取损失
- 校准的消光比测量和可变校正ER测量可确保准确性和可重复性
电气模块
- 极低噪声的电气采样器（典型值为20 GHz时为280μV，典型值为60 GHz时为450μV）
- 可选带宽2使用户可以权衡采样器带宽和噪声，以获得最佳数据采集性能
- 远程采样器或紧凑的采样扩展器模块电缆允许采样器紧靠被测设备放置，从而最大程度地降低了信号衰减
- 高性能集成TDR（典型的10 ps逐步上升时间）支持出色的阻抗不连续性表征和高动态范围，适用于50 GHz S参数测量
分析
- 从<1 GBd到60 GBd的高速PAM4和PAM2 NRZ串行数据速率的抖动，噪声和BER分析，可深入了解闭眼的确切原因
- 通过对每个PAM眼进行全面的抖动，噪声和BER分析，以及一组评估整体PAM4信号属性的全局测量，对PAM4信号进行分析
- 100G-SR4 /发射器和色散闭眼器（TDEC）自动化功能为SR4短距离以太网提供了钥匙测试和调试TX光学特性的关键
- 80STDEC简化了高性能发射器和色散眼图闭合（TDEC）测量，使其非常适合制造和一致性验证应用
- 使用80多种行业标准的口罩进行自动口罩测试。可以将新的口罩导入DSA8300，以支持新的新兴标准。用户可以定义自己的口罩以进行自动口罩测试
- 通过80SJNB Essentials和高级软件应用程序选件提供了抖动，噪声，BER，模板测试和串行数据链路分析（SDLA）。
- 高级TDR分析，S参数测量，仿真模型提取和串行链路仿真功能是通过将iConnect提供®软件应用选项
- 400G-M4光学制造分析软件提供了光发射器和色散眼图闭合四级（TDECQ）分析
高测试通量
- 高采样率，每通道高达200 kS / s
- 高效的编程接口（IEEE-488，以太网或本地处理器访问）可实现高测试吞吐量

2有关每个可用模块的详细说明，请参见80E00电气采样模块数据表。

应用领域

电信和数据通信组件与系统的设计/验证
符合ITU / ANSI / IEEE / SONET / SDH的制造/测试
高性能真差TDR测量
包括S参数在内的串行数据应用的阻抗表征和网络分析
先进的抖动，噪声，BER和SDLA分析
使用IConnect进行通道和眼图仿真以及基于测量的建模。

卓越的性能和非凡的多功能性

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产品型号：安捷伦 6612C

产品型号：安立 MP1590B

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