特点与优势：
370B的高分辨率DC参数测量（分辨率低至1 pA或2 µV）
371B的高电压和电流源（高达3,000 V或400 A）
内置光标测量-点，窗口和功能线
开尔文感测
扫描测量模式
波形比较和平均
完全可编程
1.44 MB软盘驱动器存储曲线的设置和位图
使用第三方打印机直接进行硬拷贝
应用领域：
半导体的参数表征
故障分析
数据表生成
制造测试
过程监控与质量控制
即将到来的检查
组件匹配
特点与优势：
370B的高分辨率DC参数测量（分辨率低至1 pA或2 µV）
371B的高电压和电流源（高达3,000 V或400 A）
内置光标测量-点，窗口和功能线
开尔文感测
扫描测量模式
波形比较和平均
完全可编程
1.44 MB软盘驱动器存储曲线的设置和位图
使用第三方打印机直接进行硬拷贝
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半导体的参数表征
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