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求购安捷伦 E8311A 脉冲模式发生器

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产品参数

选件 保修时间 状态 是否计量
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8成新 -- 深圳市 1
预算价格: 电议
更新日期:2020-05-12
联系电话:0755-86016691

*产品描述

产品总览

Agilent / HP E8311A脉冲码型发生器是C尺寸,1插槽,基于寄存器的VXI模块,可提供极其精确的信号。可以针对每个幅度或偏移水平调整时序参数,以满足任何规格。固定的触发输入到信号输出延迟和可变延迟范围即使在非常精确的时间点(例如在雷达测试中使用的时间点)也可以提供高度可靠和稳定的测试系统同步。Agilent / HP E8311A脉冲码型发生器可以轻松集成到测试系统开发的所有阶段。

Agilent / HP E8311A脉冲模式发生器的功能和规格包括:

  • 特征:
    • 可触发的
    • 门模式
    • 可远程编程
    • 脉冲产生
    • 爆发
    • 数据爆发
    • 可变宽度
    • 可变延迟
    • 无故障时序变化(已专利)
    • 模拟通道添加
    • 多电平信号
    • 快速转换时间:2 ns至200 ms可变
    • 与Agilent 81110A在功能上兼容
    • 广泛的触发和同步功能
    • 可用于多种应用:
      • 时钟生成,用于自动化测试系统的同步
      • 系统触发源
      • 二极管-LED
      • 雷达测试
      • 串行总线测试
      • 高速数字或混合信号设备的功能验证
      • 闪存芯片测试
      • 闪存测试
      • PRBS生成
      • 数据生成<56 kBit
  • 规格:
    • 频率范围:1 MHz-165 MHz
    • 通道数:2,单端,SMA(f)3.5毫米
    • 幅度范围:100 mV-20 V
    • 内存:每个通道16 kBit模式
    • PRBS变化(2n-1):n = 7,8,... 14

其他要求

Product Overview

The Agilent / HP E8311A Pulse Pattern Generator is a C-size, 1-slot, register-based VXI module that provides extremely accurate signals. The timing parameters can be adjusted for every amplitude or offset level to meet any specification. A fixed trigger-in to signal-out delay and variable delay ranges offer highly reliable and stable synchronization of test systems even at very precise points in time, such as those used in radar testing. The Agilent / HP E8311A Pulse Pattern Generator can be easily integrated into all phases of test system development.

Features and Specifications of the Agilent / HP E8311A Pulse Pattern Generator includes:

  • Features:
    • Triggerable
    • Gate Mode
    • Remotely Programmable
    • Pulse Generation
    • Bursts
    • Data Bursts
    • Variable Width
    • Variable Delay
    • Glitch-free Timing Changes (patented)
    • Analog Channel Add
    • Multi-level Signals
    • Fast transition times: 2 ns to 200 ms variable
    • Functionally compatible with the Agilent 81110A
    • Broad range of trigger and synchronization capabilities
    • Can be Used for a Wide Variety of Applications:
      • Clock Generation for synchronization of automated test system
      • System Trigger Source
      • Diodes - LEDs
      • Radar Testing
      • Serial Bus Testing
      • Functional verification of high-speed digital or mixed signal devices
      • Flash Chip Testing
      • Flash Memory Testing
      • PRBS Generation
      • Data Generation < 56 kBit
  • Specifications:
    • Frequency Range:  1 MHz - 165 MHz
    • Number of Channels:  2, single-ended, SMA (f) 3.5 mm
    • Amplitude Range:  100 mV - 20 V
    • Memory:  16 kBit patterns per channel
    • PRBS Variations (2n-1):  n = 7,8, ...14

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