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| 选件 | 是否计量 | 发货周期 | 保修时间 | 成色 |
|---|---|---|---|---|
| 否 | 15天 | - | 9成新 | |
| 所在地 | 机身号 | 状态 | 资料下载 | |
| - | 完好 |
JDSU多通道背反射计执行多种单模(SM)或多模(MM)背反射和损耗测量功能，从单个组件测试到自动多光纤测试。通过增加多个输出端口和多个内部光源，可以增强高灵敏度背反射测量和功率测量的主要功能。该仪表有1个、4个、12个或24个输出端口。多显示器模式允许查看者一眼看到多个测试结果。该仪表用于单光纤和带状光纤连接器的测量。混合跳线的使用允许快速改变连接器类型，而不限制反射范围。该仪表还可用于测量850、1310、1490、1550或1625纳米的2或3个内部源。3毫米InGaAs探测器特别适用于高灵敏度单光纤应用。5毫米锗探测器是一个经济的解决方案的测量带状光纤连接器，可以准确地测量连接器多达8毫米和12 SM光纤。大表面10毫米InGaAs探测器是测量较大的光纤计数带连接器的理想设备，可以用于l波段的波长扩展。单元提供了一个FC检测器适配器，还提供了其他适配器，如用于带状光纤连接器类型的MTP/MPO或MU。该仪表提供一个校准的混合跳线用于校准，一个混合测试跳线用于测量。两个跳线器的一端装有FC/APC连接器(用于仪表的输出端口)，另一端装有FC/PC连接器。未校准的混合跳线测量与其他类型的连接器也可用。
关键特性
•没有死区
•SM和MM型号
在850、1310、1490、1550或1625纳米处测量
•校准中包含集成开关
•多显示模式•行业领先的背反射范围
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