浏览次数:354
选件 | 是否计量 | 发货周期 | 保修时间 | 成色 |
---|---|---|---|---|
否 | 8周 | 12- | 全新 | |
所在地 | 机身号 | 状态 | 资料下载 | |
深圳市 | 完好 |
Microsemi公司的5120A/5125A系列相位噪声及艾伦偏差(ADEV)测试仪,采用超低噪底,准确、高速的数模转化器,无需外部校准。全数字一体化设计,一次按键便可开始测量,几秒钟后测试数据便出现在高分辨率显示屏上。
5120A/5125A采用了创新的互相关技术,交叉关联双通道的离散傅里叶变换,抵消了系统本身的噪声,更好的估算输入信号的噪声,从而获得更精确的测量结果。
5120A可选择增添内部振荡器选项(-01选项),无需外部参考源,独立完成测量。5125A将测量频率范围扩展到400MHz,应对更广泛的测试、测量需求。
相位噪声和艾伦方差同时测量
频率范围:5120A:1-30MHz,5125A:1-400MHz
支持被测信号和参考源使用不同的频率值
无需校准,一键开始,几秒钟后实时显示数据
艾伦方差测量超过300天
相位噪声测量接近0.1mHz
实时显示内部噪声
通过网口远程管理和数据采集
Copyright © 2007 All Rights Reserved. 深圳市晧辰电子科技有限公司 版权所有 [粤ICP备14101712号-1] [法律顾问]
公司地址:广东省深圳市南山区西丽街道官龙村华纵科技楼5楼 邮编:518055
在线QQ服务: 服务热线:0755-86016691 电话:13715327187 传真:0755-86641139-816
E-mail:info@wl95.com