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| 选件 | 是否计量 | 发货周期 | 保修时间 | 成色 |
|---|---|---|---|---|
| 否 | 3天 | 3- | 全新 | |
| 所在地 | 机身号 | 状态 | 资料下载 | |
| 深圳市 | 完好 |
|
概述 4200-SCS为模块化结构配置非常灵活。系统最多可支持八个源-测量单元，包括最多四个具有1A/20W能力的大功率SMU。远端前置放大器选件4200-PA，可以有效地减少长电缆所带来的噪声，且使SMU扩大五个小电流量程，使其测量能力扩展到0.1fA。前置放大器模块同系统有机地组合成一体，从使用者看来，相当于扩充了SMU的测量分辨率。 |
主要特点及优点
直观的、点击式Windows操作环境
独特的远端前置放大器，将SMU的分辨率扩展至0.1fA
用于高级半导体测试的新型脉 冲与脉冲式I-V功能
集成了示波与脉冲测量功能的新型示波卡
内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储
独特 的浏览器风格的软件界面，根据器件的类型来安排测试，可以执行多项测试并提供测试序列与循环控制功能
内置了Stress/Measure，循环和数据分析功能，通过鼠标点击方 式就可进行可靠性测试，包括5个JEDEC规范的样品测试
支持 Keithley590 型与 Agilent 4284/4294型C-V仪、Keithley开关矩阵与Agilent 81110脉冲发生器等多种外围设 备
硬件由Keithley交互式测试环境（KITE）来控制，用户测试模块功能，可用于外接仪表控制与测试平台集成，是KITE功能的扩充
包括驱动软件，支持 CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300，Micromanipulator 的8860自动和手动探针台
支持先进的半导体模型参数提取，包括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso
应用
半导体器件：
片上参数测试
晶圆级可靠性
封装器件的特性分析
使用Model4200-SCS控制外部LCR表进行C-V、I-V特性分析
高K栅电荷俘获
易受自加热 效应影响的器件和材料的等温测试
电荷泵方法分析MOSFET器件的界面态密度
电阻式或电容式MEMS驱动特性分析
光电器件：
半导体激光二极管DC/CW特性分析
收发模块DC/CW特性分析
PIN和APD特性分析
科技开发：
碳纳米管特性分析
材料研究
电化学
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