Keithley 4200-SCS半导体特性分析系统-集成前沿的脉冲能力和精密DC测量，用于65nm节点及更小尺寸主要特点及优点直观的、点击式Windows®操作环境独特的远端前置放大器，将SMU的分辨率扩展至0.1fA新的脉冲和脉冲I-V能力用于先进半导体测试新的示波器卡提供集成的示波器和脉冲测量功能内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储独特的浏览器风格的软件界面，根据器件的类型来安排测试，可以执行多项测试并提供测试序列与循环控制功能内置stress/measure、looping和数据分析用于点击式可靠性测试，包括五个符合JEDEC的范例测试支持多种LCR表、吉时利开关矩阵配置与吉时利3400系列和安捷伦81110脉冲发生器等多种外围设备包括驱动软件，支持Cascade Microtech Summit12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300、micromanipulator的8860自动和手动探针台先进半导体支持包括吉时利提供的IC-CAP器件建模包驱动程序并支持Cadence BSIM ProPlus/Virtuoso和Silvaco UTMOST器件建模工具 容易使用的4200-SCS型半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析，具有高精度和亚fA级的分辨率。它提供了最先进的系统集成能力，包括完整的嵌入式PC机，Windows NT操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程，这样用户可以更快地开始分析测试结果。更多特性使stress-measure能力适合广泛的可靠性测试。 相关应用半导体器件片上参数测试晶圆级可靠性封装器件特性分析C-V/I-V特性分析，需选件4200-590高频C-V分析器高K栅电荷俘获受自加热效应影响的器件和材料的等温测试Charge pumping用于MOSFET器件的界面态密度分析电阻性的或电容性的MEM驱动器特性分析光电子器件
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